研究会情報 |
研究会 |
SCE |
開催期間 |
2004-10-22 - 2004-10-22 |
開催地(和) |
機械振興会館 |
開催地(英) |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
テーマ(和) |
エレクトロニクス・一般 |
テーマ(英) |
Electronics, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
SCE |
会議コード |
2004-10-SCE |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
NBCO薄膜の表面抵抗測定とYBCO薄膜との比較 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Measurement of the surface resistance of NBCO thin films and its comparison with YBCO thin films |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
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キーワード(2)(和/英) |
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キーワード(3)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
小高 康志 / Yasushi Kodaka / コダカ ヤスシ |
第1著者 所属(和/英) |
埼玉大学 (略称: 埼玉大)
Saitama University (略称: Saitama Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
小林 禧夫 / Yoshio Kobayashi / コバヤシ ヨシオ |
第2著者 所属(和/英) |
埼玉大学 (略称: 埼玉大)
Saitama University (略称: Saitama Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
Jose Kurian / Jose Kurian / ジョセ クリアン |
第3著者 所属(和/英) |
NTT物性科学基礎研究所 (略称: NTT)
NTT Basic Research Laboratories (略称: NTT) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
佐藤 寿志 / Hisashi Sato / サトウ ヒサシ |
第4著者 所属(和/英) |
NTT物性科学基礎研究所 (略称: NTT)
NTT Basic Research Laboratories (略称: NTT) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
牧本 俊樹 / Toshiki Makimoto / マキモト トシキ |
第5著者 所属(和/英) |
NTT物性科学基礎研究所 (略称: NTT)
NTT Basic Research Laboratories (略称: NTT) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第21著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第22著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第23著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第24著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第25著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第26著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第27著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第28著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第29著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第30著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第31著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第32著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第33著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第34著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第35著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第36著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2004-10-22 09:25:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
SCE |
資料番号 |
SCE2004-25 |
巻番号(vol) |
vol.104 |
号番号(no) |
no.373 |
ページ範囲 |
pp.5-8 |
ページ数 |
4 |
発行日 |
2004-10-15 (SCE) |