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講演抄録/キーワード
講演名 2005-01-27 14:00
SILプレートによる高分解能故障解析
吉田岳司小山 徹小守純子益子洋治ルネサステクノロジエレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2004-157 ICD2004-202
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 104, no. 628, ICD2004-202, pp. 13-17, 2005年1月.
資料番号 ICD2004-202 
発行日 2005-01-20 (CPM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2004-157 ICD2004-202

研究会情報
研究会 ICD CPM  
開催期間 2005-01-27 - 2005-01-28 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト実装、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2005-01-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) SILプレートによる高分解能故障解析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) High-resolution failure analysis with SIL plate 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉田 岳司 / Takeshi Yoshida / ヨシダ タケシ
第1著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology (略称: Renesas)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小山 徹 / Thoru Koyama / コヤマ トオル
第2著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology (略称: Renesas)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 小守 純子 / Junko Komori / コモリ ジュンコ
第3著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology (略称: Renesas)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 益子 洋治 / Yoji Mashiko / マシコ ヨウジ
第4著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology (略称: Renesas)
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講演者 第1著者 
発表日時 2005-01-27 14:00:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 CPM2004-157, ICD2004-202 
巻番号(vol) vol.104 
号番号(no) no.626(CPM), no.628(ICD) 
ページ範囲 pp.13-17 
ページ数
発行日 2005-01-20 (CPM, ICD) 


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