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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2005-01-28 14:00 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について ○樋上喜信（愛媛大）・梶原誠司（九工大）・小林真也・高松雄三（愛媛大） エレソ技報アーカイブへのリンク：  CPM2004-169 ICD2004-214 |
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| 抄録 | （和） | 本稿では，順序回路のテスト系列に対して，縮退故障検出率を低下させることなく，ドントケアとなる外部入力値を発見する手法を提案する．ここでは，故障シミュレーションを行ってドントケア値を発見する手法を基に，さらに多くのドントケア値を発見するための二つの手法を提案する．また，得られたドントケア値を含むテスト系列を用いた応用として，消費電力削減法とテスト圧縮法を提案する．これらの手法を用いることによって，低消費電力かつ短いテスト系列を得ることが可能となる． |
| （英） | This paper presents a method for finding don't cares in test sequences hile keeping the original stuck-at fault coverage. Here two method are proposed for obtaining as many don't cares as possible, based on the method that utilizes fault simulation. Moreover as applications of test sequences including don't cares, power reduction method and test compaction method are proposed. By using the methods together, short test sequences with low power dissipation can be obtained. | |
| キーワード | （和） | 順序回路 / テスト系列 / ドントケア値 / テスト圧縮 / 消費電力削減 / / / |
| （英） | Sequential circuit / Test sequence / Don't care values / Test compaction / Power reduction / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 104, no. 629, ICD2004-214, pp. 41-46, 2005年1月. | |
| 資料番号 | ICD2004-214 | |
| 発行日 | 2005-01-21 (CPM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | エレソ技報アーカイブへのリンク：CPM2004-169 ICD2004-214 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD CPM |
| 開催期間 | 2005-01-27 - 2005-01-28 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト実装、一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2005-01-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Finding Don't Cares in Test Sequences for Sequential Circuits and Applications to Test Compaction and Power Reduction |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 順序回路 / Sequential circuit |
| キーワード(2)（和/英） | テスト系列 / Test sequence |
| キーワード(3)（和/英） | ドントケア値 / Don't care values |
| キーワード(4)（和/英） | テスト圧縮 / Test compaction |
| キーワード(5)（和/英） | 消費電力削減 / Power reduction |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Tecnology (略称： Kyushu Inst. Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 真也 / Shin-ya Kobayashi / コバヤ シシンヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高松 雄三 / Yuzo Takamatsu / タカマツ ユウゾウ |
| 第4著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2005-01-28 14:00:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | CPM2004-169, ICD2004-214 |
| 巻番号（vol） | vol.104 |
| 号番号（no） | no.627(CPM), no.629(ICD) |
| ページ範囲 | pp.41-46 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2005-01-21 (CPM, ICD) |
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