講演抄録/キーワード |
講演名 |
2005-04-15 14:30
中性子ソフトエラーシミュレーションの新展開 ○上村大樹・戸坂義春・芦澤芳夫・岡 秀樹・佐藤成生(富士通研) エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-19 |
抄録 |
(和) |
近年、LSIのソフトエラーに対する危惧が再び高まりつつある。これはメモリだけでなくロジックのソフトエラーも問題になり始めたからである。近年のソフトエラーの主たる原因は二次宇宙線の中性子である。これまで中性子ソフトエラーシミュレーション技術が開発されてきたが、本発表はこれまでのシミュレーション技術を発展させ、ロジックを含むLSIに適応させた結果を報告する。 |
(英) |
In these years, the interest in soft error becomes increasing. This comes from the problem that the soft error occurs not only for memory circuits but also for logic circuits. The main origin of the soft error is neutron from secondary cosmic ray. Based on our developed simulation technology for the soft error by neutron, we extended it to describe the logic circuit’s soft error. |
キーワード |
(和) |
ソフトエラー / 中性子 / ロジック / メモリー / 信頼性 / シミュレーション / / |
(英) |
Soft Eror / Neutron / Logic / Memory / Reliability / Simulation / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 2, ICD2005-19, pp. 37-42, 2005年4月. |
資料番号 |
ICD2005-19 |
発行日 |
2005-04-08 (ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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