お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2005-04-15 14:30
中性子ソフトエラーシミュレーションの新展開
上村大樹戸坂義春芦澤芳夫岡 秀樹佐藤成生富士通研エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-19
抄録 (和) 近年、LSIのソフトエラーに対する危惧が再び高まりつつある。これはメモリだけでなくロジックのソフトエラーも問題になり始めたからである。近年のソフトエラーの主たる原因は二次宇宙線の中性子である。これまで中性子ソフトエラーシミュレーション技術が開発されてきたが、本発表はこれまでのシミュレーション技術を発展させ、ロジックを含むLSIに適応させた結果を報告する。 
(英) In these years, the interest in soft error becomes increasing. This comes from the problem that the soft error occurs not only for memory circuits but also for logic circuits. The main origin of the soft error is neutron from secondary cosmic ray. Based on our developed simulation technology for the soft error by neutron, we extended it to describe the logic circuit’s soft error.
キーワード (和) ソフトエラー / 中性子 / ロジック / メモリー / 信頼性 / シミュレーション / /  
(英) Soft Eror / Neutron / Logic / Memory / Reliability / Simulation / /  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 2, ICD2005-19, pp. 37-42, 2005年4月.
資料番号 ICD2005-19 
発行日 2005-04-08 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-19

研究会情報
研究会 ICD  
開催期間 2005-04-14 - 2005-04-15 
開催地(和) 福岡システムLSI 総合開発センター 
開催地(英)  
テーマ(和) 新メモリ技術、メモリ応用技術、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2005-04-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 中性子ソフトエラーシミュレーションの新展開 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) New Development of Neutron-induced Soft-Error Simulation Technology 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ソフトエラー / Soft Eror  
キーワード(2)(和/英) 中性子 / Neutron  
キーワード(3)(和/英) ロジック / Logic  
キーワード(4)(和/英) メモリー / Memory  
キーワード(5)(和/英) 信頼性 / Reliability  
キーワード(6)(和/英) シミュレーション / Simulation  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 上村 大樹 / Taiki Uemura / ウエムラ タイキ
第1著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories LTD (略称: Fujitsu lab.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 戸坂 義春 / Yoshiharu Tosaka / トサカ ヨシハル
第2著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories LTD (略称: Fujitsu lab.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 芦澤 芳夫 / Yoshio Ashizawa / アシザワ ヨシオ
第3著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories LTD (略称: Fujitsu lab.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡 秀樹 / Hideki Oka / オカ ヒデキ
第4著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories LTD (略称: Fujitsu lab.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 成生 / Shigeo Satoh / サトウ シゲオ
第5著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所 (略称: 富士通研)
Fujitsu Laboratories LTD (略称: Fujitsu lab.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2005-04-15 14:30:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 ICD2005-19 
巻番号(vol) vol.105 
号番号(no) no.2 
ページ範囲 pp.37-42 
ページ数
発行日 2005-04-08 (ICD) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会