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講演抄録/キーワード
講演名 2005-05-27 11:00
オーバーサンプル・エッジイコライズ技術による12Gb/sデュオ・バイナリ伝送
山口晃一須永和久帰山隼一根立貴章高宮 真野瀬浩一中川源洋NEC)・菅原光俊NECエレクトロニクス アメリカ)・深石宗生NECエレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-30
抄録 (和) 符号間干渉を許容することで高速伝送を実現する、デュオ・バイナリ(Duobinary)伝送方式を用いたSerDes伝送技術を開発した。今回、バックプレーンでのDuobinary伝送を3つのキー技術、1) Duobinary信号へ適応等化する為のエッジ・イコライズ技術、及び2)オーバーサンプル・イコライズ技術、3)クロックリカバリの為の2ビット遷移保証符号化技術、により実現した。90nm CMOSプロセスでTEGを試作した結果、75cm low-e PCBを12Gb/sで伝送時に、2値伝送に比べて2.2倍のEye開口が確認できた。 
(英) A backplane transceiver in 90nm CMOS that employs duobinary signaling over copper traces is described. To introduce duobinary signaling into data transfers on printed boards, three techniques are developed: 1) edge equalization for equalizer adaptation, 2) 2x oversampled transmitter equalizer for ISI control, and 3) 2b-transition-ensure encoding for clock recovery.
キーワード (和) 符号間干渉 / パーシャルレスポンス / デュオ・バイナリ / / / / /  
(英) Intersymbol interference / Partial response / Duobinary / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 96, ICD2005-30, pp. 13-18, 2005年5月.
資料番号 ICD2005-30 
発行日 2005-05-20 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-30

研究会情報
研究会 ICD  
開催期間 2005-05-26 - 2005-05-27 
開催地(和) 神戸大学 
開催地(英) Kobe Univ. 
テーマ(和) VLSI一般(ISSCC2005特集) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2005-05-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) オーバーサンプル・エッジイコライズ技術による12Gb/sデュオ・バイナリ伝送 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) 12Gb/s duobinary signaling with x2 oversampled edge equalization 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 符号間干渉 / Intersymbol interference  
キーワード(2)(和/英) パーシャルレスポンス / Partial response  
キーワード(3)(和/英) デュオ・バイナリ / Duobinary  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 山口 晃一 / Kouichi Yamaguchi / ヤマグチ コウイチ
第1著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 須永 和久 / Kazuhisa Sunaga / スナガ カズヒサ
第2著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 帰山 隼一 / Shunichi Kaeriyama / カエリヤマ シュンイチ
第3著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 根立 貴章 / Takaaki Nedachi / ネダチ タカアキ
第4著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 高宮 真 / Makoto Takamiya / タカミヤ マコト
第5著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 野瀬 浩一 / Koichi Nose / ノセ コウイチ
第6著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 中川 源洋 / Yoshihiro Nakagawa / ナカガワ ヨシヒロ
第7著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) 菅原 光俊 / Mitsutoshi Sugawara / スガワラ ミツトシ
第8著者 所属(和/英) NECエレクトロニクス アメリカ (略称: NECエレクトロニクス アメリカ)
NEC Electronics America (略称: NEC-EL America)
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) 深石 宗生 / Muneo Fukaishi / フカイシ ムネオ
第9著者 所属(和/英) 日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC (略称: NEC)
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講演者 第1著者 
発表日時 2005-05-27 11:00:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 ICD2005-30 
巻番号(vol) vol.105 
号番号(no) no.96 
ページ範囲 pp.13-18 
ページ数
発行日 2005-05-20 (ICD) 


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