講演抄録/キーワード |
講演名 |
2005-06-24 09:40
ヨウ化水素誘導結合プラズマエッチングを用いたInP系半導体フォトニック結晶の製作 ○野崎謙悟・橋本惇一・井手利英・水田栄一・志賀正浩・馬場俊彦(横浜国大) エレソ技報アーカイブへのリンク:OPE2005-15 LQE2005-14 |
抄録 |
(和) |
本研究では,1.55 micron帯GaInAsP-InPウェハに対してヨウ化水素(HI)ガスを用いた誘導結合プラズマ(ICP)エッチングを行い,良好な平滑性と高アスペクト比をもつフォトニック結晶(PC)円孔配列を形成することに成功した.HIガスを用いた低温ICPエッチングでは,レジストマスクからの直接転写が可能であり,従来の中間マスクを用いるプロセスに比べて側壁平滑性が向上した.エッチング状態を律則する諸条件を最適化した結果,直径0.2 micron程度の小円孔に対してアスペクト比13以上,側壁荒れ10 nm以下が得られた.実際にGaInAsPスラブに形成したPC点欠陥レーザでは明瞭な発振動作が確認された. |
(英) |
We successfully formed the photonic crystal consisting of airholes with smooth sidewalls and high aspect ratio into GaInAsP/InP wafer by using inductively coupled plasma (ICP) etching with HI gaseous source. The HI gas allows the etching at a relatively low temperature of 70 degree. Therefore, e-beam resist can be directly used as an etching mask. This results in easy patterning and reduction in sidewall roughness of airholes, compared with the process using an intermediate metal or dielectric mask. After we optimized the etching condition, we formed the 0.2 micron-diameter airholes with an aspect ratio of over 13 and a sidewall roughness of less than 10 nm. The room temperature lasing action was observed in the PC point defect laser formed into 1.55-micron-GaInAsP slab. |
キーワード |
(和) |
フォトニック結晶 / ヨウ化水素 / 誘導結合プラズマ / InP / GaInAsP / 点欠陥共振器 / アスペクト比 / |
(英) |
Photonic crystal / HI / Inductively coupled plasma / InP / GaInAsP / Defect cavity / Aspect ratio / |
文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 143, LQE2005-14, pp. 7-10, 2005年6月. |
資料番号 |
LQE2005-14 |
発行日 |
2005-06-17 (OPE, LQE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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