講演抄録/キーワード |
講演名 |
2005-08-26 11:45
量子暗号鍵配布における光回路の温度無依存化、伝送路無依存化技術 ~ 変調振幅一定制御及びバーストモードQKD ~ ○田中聡寛・田島章雄・前田和佳子・高橋成五(NEC) |
抄録 |
(和) |
究極の暗号化通信として注目を集めている量子暗号通信の実用化に向けて、実使用環境に適用する為に克服すべき様々な課題が存在する。量子暗号鍵配布に利用する光学干渉計の温度特性向上の為に変調振幅一定制御技術を、伝送路における反射/後方散乱光耐力を向上させるためにバーストモード技術を確立し、その有効性を確認したので、これを報告する。 |
(英) |
Many problems to be resolved are still remaining toward the commercial viability of the quantum cryptosystem, which attracts much attention as “Ultimate cryptosystem”. We developed following technologies and confirmed their essentiality: modulation amplitude stabilization technique for temperature independence of the interferometer utilized in quantum key distribution, and burst-mode key generation technique to achieve transmission line independent quantum key distribution system. |
キーワード |
(和) |
量子暗号鍵配布 / 光学干渉計 / 温度無依存性 / 後方散乱光耐力 / / / / |
(英) |
Quantum Key Distribution / Optical Interferometer / Temperature Independence / Backscattering Tolerance / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 243, OCS2005-41, pp. 35-40, 2005年8月. |
資料番号 |
OCS2005-41 |
発行日 |
2005-08-19 (OCS) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
PDFダウンロード |
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研究会情報 |
研究会 |
OFT OCS |
開催期間 |
2005-08-25 - 2005-08-26 |
開催地(和) |
秋田大学 |
開催地(英) |
Akita Univ. |
テーマ(和) |
次世代光ファイバ、光計測、光伝搬、光信号処理、一般 |
テーマ(英) |
|
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
OCS |
会議コード |
2005-08-OFT-OCS |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
量子暗号鍵配布における光回路の温度無依存化、伝送路無依存化技術 |
サブタイトル(和) |
変調振幅一定制御及びバーストモードQKD |
タイトル(英) |
Temperature and transmission line independent technologies of optical circuits in Quantum Key Distribution |
サブタイトル(英) |
* |
キーワード(1)(和/英) |
量子暗号鍵配布 / Quantum Key Distribution |
キーワード(2)(和/英) |
光学干渉計 / Optical Interferometer |
キーワード(3)(和/英) |
温度無依存性 / Temperature Independence |
キーワード(4)(和/英) |
後方散乱光耐力 / Backscattering Tolerance |
キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
田中 聡寛 / Akihiro Tanaka / タナカ アキヒロ |
第1著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
田島 章雄 / Akio Tajima / タジマ アキオ |
第2著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
前田 和佳子 / Wakako Maeda / マエダ ワカコ |
第3著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
高橋 成五 / Seigo Takahashi / タカハシ セイゴ |
第4著者 所属(和/英) |
日本電気株式会社 (略称: NEC)
NEC Corporation (略称: NEC) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 所属(和/英) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2005-08-26 11:45:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
OCS |
資料番号 |
OCS2005-41 |
巻番号(vol) |
vol.105 |
号番号(no) |
no.243 |
ページ範囲 |
pp.35-40 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2005-08-19 (OCS) |