講演抄録/キーワード |
講演名 |
2005-09-22 14:10
大局的センシングを主体としたパターン認識の筆跡鑑定への応用 ○矢野 明(東京工科大) |
抄録 |
(和) |
大局的センシングは局所の特徴によらない全体の特徴に関するセンシングである.これは,人間の脳においても活用されており,従来の局所的特徴を用いたパターン認識にこれを加えることによって認識率が大幅に改善されることが期待される.この方式をここでは筆跡鑑定に応用した. 手始めに, 縦横比, 上下, 左右に占める線の面積比等を前処理データとしてパーセプトロン型学習機械にかけたところ, 被験者3人の書いた各6文字中,5文字で学習し, 残りの1文字で正しく鑑定できた.そこで, 被験者を増やし, 様々な前処理を工夫して実験を続け, 大局的センシングの有効性を示す結果を得た. |
(英) |
Global Sensing is sensing about a total characteristic which does not depend on a characteristic of a limited part. It is hoped that recognition rate is improvement by adding this to conventional pattern recognition. I applied this method to handwriting analysis here. In the beginning I extract a few preprocessing data such as length and the horizontal ratio normalized by the printing type, etc., and lead them to a perceptron type learning machine. It judges handwriting of three subjects justly. I did experiments increasing subjects and got the result that indicates the effectiveness of Global Sensing. |
キーワード |
(和) |
大局的センシング / パターン認識 / パーセプトロン / 機械学習 / 筆跡鑑定 / / / |
(英) |
global sensing / pattern recognition / perceptrons / machine learning / handwriting analysis / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 302, PRMU2005-78, pp. 89-94, 2005年9月. |
資料番号 |
PRMU2005-78 |
発行日 |
2005-09-15 (NLC, PRMU) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
PDFダウンロード |
|
研究会情報 |
研究会 |
PRMU NLC |
開催期間 |
2005-09-21 - 2005-09-22 |
開催地(和) |
東大(本郷) |
開催地(英) |
|
テーマ(和) |
ロボットとの相互作用のための言語処理・パターン認識・メディア理解 |
テーマ(英) |
|
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
PRMU |
会議コード |
2005-09-PRMU-NLC |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
大局的センシングを主体としたパターン認識の筆跡鑑定への応用 |
サブタイトル(和) |
|
タイトル(英) |
Application of Global Sensing to Handwriting Analysis |
サブタイトル(英) |
|
キーワード(1)(和/英) |
大局的センシング / global sensing |
キーワード(2)(和/英) |
パターン認識 / pattern recognition |
キーワード(3)(和/英) |
パーセプトロン / perceptrons |
キーワード(4)(和/英) |
機械学習 / machine learning |
キーワード(5)(和/英) |
筆跡鑑定 / handwriting analysis |
キーワード(6)(和/英) |
/ |
キーワード(7)(和/英) |
/ |
キーワード(8)(和/英) |
/ |
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
矢野 明 / Akira Yano / ヤノ アキラ |
第1著者 所属(和/英) |
東京工科大学 (略称: 東京工科大)
Tokyo University of Technology (略称: Tokyo Univ of Tech) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第2著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第3著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第4著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第5著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第6著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第7著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第8著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第9著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第10著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第11著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第12著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第13著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第14著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第15著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第16著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第17著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第18著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第19著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第20著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2005-09-22 14:10:00 |
発表時間 |
30分 |
申込先研究会 |
PRMU |
資料番号 |
NLC2005-51, PRMU2005-78 |
巻番号(vol) |
vol.105 |
号番号(no) |
no.300(NLC), no.302(PRMU) |
ページ範囲 |
pp.89-94 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2005-09-15 (NLC, PRMU) |
|