講演抄録/キーワード |
講演名 |
2005-10-21 09:40
マイクロプロセッサの熱解析に関する研究 ○長谷川直之・伊藤睦夫・江川隆輔・鈴木健一・中村維男(東北大) エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-136 |
抄録 |
(和) |
近年の半導体加工技術の進歩と新しいマイクロアーキテクチャにより、マイクロプロセッサの性能は劇的に向上している。しかし、それに伴いチップ自体の発熱問題が表面化し、チップ内部の温度分布を扱える熱解析と熱を考慮した回路設計の重要性が増している。早期設計段階のみを対象とした既存の熱解析手法は機能ブロック単位で発熱源をモデル化しているため、スタンダードセルを用いたより詳細な設計段階において熱の振舞いを正確に把握し設計に反映させることが困難である。そこで本研究では、論理ゲートを発熱源とする細粒度の発熱モデルを用いた熱解析手法を提案し、細粒度発熱モデルによって得られる温度プロファイルを定量的に評価し、本提案手法の有効性について論じる。 |
(英) |
Recently, the advance in the semiconductor process technology and the modern microarchitectural techniques have enabled microprocessors to obtain higher performance continuously. However, as a result of the radical improvement, in turn, inevitable high temperature induced by the circuits restricts the performance and reliability. Consequently, it is very important to analyze on-chip temperature distribution and apply the results of it to the design. Conventionally, most of the existing thermal analyzing methods regard a functional block as a heat source due to focusing on early design stages. It has a difficulty in comprehending and making use of the thermal behavior on later design stages. In our study, we propose a fine-grain thermal analysis method modeling a logic gate as a unit of a heat source. This paper shows quantitative evaluations of the effect of the fine-grain heat source model, and discusses the effectiveness of our proposal. |
キーワード |
(和) |
熱解析 / セルレベル / ホットスポット / / / / / |
(英) |
Thermal Analysis / Cell Level / Hotspot / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 352, ICD2005-136, pp. 13-18, 2005年10月. |
資料番号 |
ICD2005-136 |
発行日 |
2005-10-14 (SIP, ICD, IE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
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エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-136 |
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