講演抄録/キーワード |
講演名 |
2005-11-12 09:50
ArFレーザ援用MOCVD法で作製したInN1-xOx薄膜によるH2Sの光触媒分解効果 ○宮西正芳(福井大)・高橋尚也(福井高専)・小林隆弘(福井大)・高山勝己(福井高専)・南保幸男(日華化学)・橋本明弘・山本あきお(福井大) エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2005-163 |
抄録 |
(和) |
ArFエキシマレーザ援用MOCVD法(La-MOCVD法)により低温(500℃以下)で形成したInN膜には酸素が混入し易く、成長膜はInNとIn2O3との混晶、InN1-xOx、になっていると考えられている。In2O3が光触媒活性を有することに着目し、InN1-xOx膜の光触媒活性を評価した。光触媒効果としてはH2Sの分解特性を調べた。その結果、成長温度200℃以下のInN1-xOx膜が優れた光触媒活性を有することを初めて見出した。既存の光触媒材料であるTiO2やIn2O3との比較を行った結果、InN1-xOx膜の分解効果の方が優れていることがわかった。 |
(英) |
An InN1-xOx, which is an alloy of InN with In2O3, is grown at a low (RT-500ºC) temperature by the ArF excimer laser-assisted MOCVD (La-MOCVD) using TMI and NH3. Photocatalytic activity of InN1-xOx film is experimentally studied for the first time. Decomposition rate of H2S is evaluated as a photocatalytic activity of InN1-xOx film. We have found that films grown at a temperature in the range RT-200ºC have an excellent photocatalytic activity, which is better than those for the conventional In2O3 and TiO2. |
キーワード |
(和) |
窒化酸化インジウム / 光MOCVD / アンモニア / ArFエキシマレーザ / 光触媒 / 硫化水素 / / |
(英) |
InN1-xOx / MOCVD / NH3 / photolysis / ArF excimer laser / H2S / photocatalyst / |
文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 394, CPM2005-163, pp. 9-12, 2005年11月. |
資料番号 |
CPM2005-163 |
発行日 |
2005-11-05 (CPM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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