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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2005-12-02 09:30 スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について ○鈴木達也・温 暁青・梶原誠司（九工大）・宮瀬紘平・皆本義弘（JST） エレソ技報アーカイブへのリンク：  ICD2005-171 |
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| 抄録 | （和） | スキャンテストのキャプチャ時においてフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のＩＲドロップを引き起こす可能性があり，それは深刻な歩留まりの低下につながる．本論文では，テスト集合変更に基づいた手法を用いる．提案手法の特徴は（1）与えられたテストパターンに対し，故障検出率を低下させずに，選択したビットをドントケア（Ｘ）に変える新しい制約Ｘ判定手法と，（2）キャプチャ時の論理値の遷移数を削減するLCP（Low Capture Power）のため，Ｘへの論理値割り当て手法である．提案手法はチップ面積，タイミング，テスト集合サイズ，および故障検出率に影響なくキャプチャ時の消費電力を削減するため，テスト生成フローへ容易に組み込むことが出来る．ベンチマーク回路での実験結果は提案手法の効果を示している． |
| （英） | High switching activity occurs when the response to a test vector is captured by flip-flops during scan testing. This may cause excessive IR drop, resulting in significant test-induced yield loss. The paper addresses this problem with a novel method based on test set modification, featuring (1) a new constrained X-identification procedure that turns a properly selected set of bits in a fully-specified test set into X-bits without fault coverage loss and (2) a new LCP (low capture power) X-filling procedure that optimally assigns 0’s and 1’s to the X-bits to reduce the switching activity of the resulting test set in capture mode. This method can be readily incorporated in any test generation flow to efficiently reduce capture power dissipation without any impact on area, timing, test set size, and fault coverage. Experimental results on benchmark circuits have shown its effectiveness. | |
| キーワード | （和） | キャプチャ低消費電力 / ドントケア判定 / ドントケアへの論理値割り当て / / / / / |
| （英） | Low Capture Power / X-Identification / X-filling / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 105, no. 449, DC2005-53, pp. 1-6, 2005年11月. | |
| 資料番号 | DC2005-53 | |
| 発行日 | 2005-11-25 (VLD, ICD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2005-171 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD ICD DC IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2005-11-30 - 2005-12-02 |
| 開催地（和） | 北九州国際会議場 |
| 開催地（英） | Kitakyushu International Conference Center |
| テーマ（和） | VLSI の設計/検証/テストおよび一般(デザインガイア) |
| テーマ（英） | Design/Verification/Test of VLSI systems, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2005-11-VLD-ICD-DC-IPSJ-SLDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力化に効果的なテスト集合変更について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Low Capture Power Test Generation for Scan Testing |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | キャプチャ低消費電力 / Low Capture Power |
| キーワード(2)（和/英） | ドントケア判定 / X-Identification |
| キーワード(3)（和/英） | ドントケアへの論理値割り当て / X-filling |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鈴木 達也 / Tatsuya Suzuki / スズキ タツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) kyushu Institute of Technology (略称： K.I.T.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 温 暁青 / Xiaoqing Wen / Xiaoqing Wen |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) kyushu Institute of Technology (略称： K.I.T.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) kyushu Institute of Technology (略称： K.I.T.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第4著者 所属（和/英） | 科学技術振興機構 (略称： JST) Japan Science and Technology Agency (略称： JST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 皆本 義弘 / Yoshihiro Minamoto / ミナモト ヨシヒロ |
| 第5著者 所属（和/英） | 科学技術振興機構 (略称： JST) Japan Science and Technology Agency (略称： JST) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2005-12-02 09:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2005-76, ICD2005-171, DC2005-53 |
| 巻番号（vol） | vol.105 |
| 号番号（no） | no.443(VLD), no.446(ICD), no.449(DC) |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2005-11-25 (VLD, ICD, DC) |
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