講演抄録/キーワード |
講演名 |
2005-12-16 11:40
電荷再利用型動的ボディ電位制御によるSOI-CMOSの高速化手法 ○北村雅之・飯島正章・濱田健司・沼 昌宏(神戸大)・野谷宏美・多田 章・前川繁登(ルネサステクノロジ) エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-198 |
抄録 |
(和) |
本稿では,SOIデバイスの特徴を生かし,トランジスタのボディ電位を動的に制御することで,リーク電流を増加させずに高速化を行う手法を提案する.従来の動的ボディ電位制御手法には,複雑な制御回路やバイアス用電源の付加による面積増加,ボディ電位の遷移時間が長いといった問題が存在した.提案する電荷再利用型動的ボディ電位制御では,nMOSのバイアス印加にpMOSの電荷を利用することで,バイアス用電源を用いなくても高速なボディ電位制御が可能である.SPICEシミュレーションで提案手法を評価した結果,最大で20%遅延時間を短縮し,バイアス用電源を利用しなくても高速なボディ電位制御が可能であることを確認した. |
(英) |
In this paper, we propose a new technique in order to achieve speed up without increase in leakage current by using actively body-bias controlling technique. Conventional body-bias controlling techniques have some problems, such as very slow bias controlling operation and large area penalty. To solve this problem, we propose a Charge Recycling Actively Body-bias Controlled (CRABC) circuit on SOI which uses the charge kept in pMOS’s body for nMOS’s body-bias and controls the body voltage in short transition time using simple additional circuit. According to the SPICE simulation, we have confirmed that CRABC shortens delay time by 20 % and controls the body voltage within a few clocks. |
キーワード |
(和) |
動的ボディ電位制御 / 電荷再利用 / PD-SOI / リーク電流 / / / / |
(英) |
Active Body-bias Controll / Charge Recycling / PD-SOI / leakage current / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 476, ICD2005-198, pp. 37-42, 2005年12月. |
資料番号 |
ICD2005-198 |
発行日 |
2005-12-09 (ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
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エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-198 |