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講演抄録/キーワード
講演名 2005-12-16 11:40
電荷再利用型動的ボディ電位制御によるSOI-CMOSの高速化手法
北村雅之飯島正章濱田健司沼 昌宏神戸大)・野谷宏美多田 章前川繁登ルネサステクノロジエレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-198
抄録 (和) 本稿では,SOIデバイスの特徴を生かし,トランジスタのボディ電位を動的に制御することで,リーク電流を増加させずに高速化を行う手法を提案する.従来の動的ボディ電位制御手法には,複雑な制御回路やバイアス用電源の付加による面積増加,ボディ電位の遷移時間が長いといった問題が存在した.提案する電荷再利用型動的ボディ電位制御では,nMOSのバイアス印加にpMOSの電荷を利用することで,バイアス用電源を用いなくても高速なボディ電位制御が可能である.SPICEシミュレーションで提案手法を評価した結果,最大で20%遅延時間を短縮し,バイアス用電源を利用しなくても高速なボディ電位制御が可能であることを確認した. 
(英) In this paper, we propose a new technique in order to achieve speed up without increase in leakage current by using actively body-bias controlling technique. Conventional body-bias controlling techniques have some problems, such as very slow bias controlling operation and large area penalty. To solve this problem, we propose a Charge Recycling Actively Body-bias Controlled (CRABC) circuit on SOI which uses the charge kept in pMOS’s body for nMOS’s body-bias and controls the body voltage in short transition time using simple additional circuit. According to the SPICE simulation, we have confirmed that CRABC shortens delay time by 20 % and controls the body voltage within a few clocks.
キーワード (和) 動的ボディ電位制御 / 電荷再利用 / PD-SOI / リーク電流 / / / /  
(英) Active Body-bias Controll / Charge Recycling / PD-SOI / leakage current / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 105, no. 476, ICD2005-198, pp. 37-42, 2005年12月.
資料番号 ICD2005-198 
発行日 2005-12-09 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2005-198

研究会情報
研究会 ICD  
開催期間 2005-12-15 - 2005-12-16 
開催地(和) 高知工科大 
開催地(英)  
テーマ(和) 回路技術(一般、超高速・低電力・高機能を目指した新アーキテクチュア) (オーガナイザ:西谷隆夫(高知工科大学)) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2005-12-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 電荷再利用型動的ボディ電位制御によるSOI-CMOSの高速化手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) High Performance CMOS Circuit by using Charge Recycling Actively Body-bias Controlled SOI 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 動的ボディ電位制御 / Active Body-bias Controll  
キーワード(2)(和/英) 電荷再利用 / Charge Recycling  
キーワード(3)(和/英) PD-SOI / PD-SOI  
キーワード(4)(和/英) リーク電流 / leakage current  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 北村 雅之 / Masayuki Kitamura / キタムラ マサユキ
第1著者 所属(和/英) 神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 飯島 正章 / Masaaki Iijima / イイジマ マサアキ
第2著者 所属(和/英) 神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 濱田 健司 / Kenji Hamada / ハマダ ケンジ
第3著者 所属(和/英) 神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 沼 昌宏 / Masahiro Numa / ヌマ マサヒロ
第4著者 所属(和/英) 神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 野谷 宏美 / Hiromi Notani / ノタニ ヒロミ
第5著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology (略称: Renesas)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 多田 章 / Akira Tada / タダ アキラ
第6著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology (略称: Renesas)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 前川 繁登 / Shigeto Maegawa / マエガワ シゲト
第7著者 所属(和/英) ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology (略称: Renesas)
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講演者 第1著者 
発表日時 2005-12-16 11:40:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 ICD2005-198 
巻番号(vol) vol.105 
号番号(no) no.476 
ページ範囲 pp.37-42 
ページ数
発行日 2005-12-09 (ICD) 


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