| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-03-07 15:35
移動度の低下により劣化したMOSトランスコンダクタの線形性を改善するための一手法
北島皓興・谷地舘 陽・○松元藤彦・野口泰明（防衛大） |
| 抄録 |
（和） |
従来のMOSトランスコンダクタは、単純な2乗則による解析から線形特性を有するとみなされてきたが、現実の回路の線形性は悪い。その最も重要な要因のひとつがゲートの垂直電界による移動度の低下である。本稿では、移動度の低下によって線形性の悪化したトランスコンダクタの線形性改善手法を提案する。移動度の低下を考慮すると数式が極めて複雑になり、伝達特性の解析解が得られない。そこで、近似を用いた線形化パラメータ導出法とその有効性について述べる。 |
| （英） |
Using a square-law function, a conventional MOS transconductor has been regarded as a linear circuit. In practice, however, the characteristic is not linear because of mobility degradation from an effect of vertical field. This paper presents a technique to improve the linearity of the transconductor. Considering the mobility degradation, the output current and the transconductance can not be expressed as simple equations. Thus, it has been difficult to find analytic solution for the linearization. In this paper, a derivation method emplying approximation is presented. |
| キーワード |
（和） |
アナログ集積回路 / 線形回路 / トランスコンダクタ / MOSトランジスタ / / / / |
| （英） |
analog integrated circuits / linear circuits / transconductor / MOS transistors / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 105, no. 634, CAS2005-128, pp. 61-66, 2006年3月. |
| 資料番号 |
CAS2005-128 |
| 発行日 |
2006-02-28 (CAS, SIP, CS) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
CAS SIP CS |
| 開催期間 |
2006-03-06 - 2006-03-07 |
| 開催地（和） |
琉球大学 |
| 開催地（英） |
Univ of Ryukyu |
| テーマ（和） |
ネットワークプロセッサ、通信のための信号処理、符号理論、一般 |
| テーマ（英） |
Network processors, signal processing for communications, coding theory, etc. |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
CAS |
| 会議コード |
2006-03-CAS-SIP-CS |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
移動度の低下により劣化したMOSトランスコンダクタの線形性を改善するための一手法 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
A Technique to improve linearity deterioreted by mobility degradation for an MOS transconductor |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
アナログ集積回路 / analog integrated circuits |
| キーワード(2)（和/英） |
線形回路 / linear circuits |
| キーワード(3)（和/英） |
トランスコンダクタ / transconductor |
| キーワード(4)（和/英） |
MOSトランジスタ / MOS transistors |
| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
北島 皓興 / Teruoki Kitajima / キタジマ テルオキ |
| 第1著者 所属（和/英） |
防衛大学校 (略称： 防衛大)
National Defense Academy (略称： NDA) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
谷地舘 陽 / Akira Yachidate / ヤチダテ アキラ |
| 第2著者 所属（和/英） |
防衛大学校 (略称： 防衛大)
National Defense Academy (略称： NDA) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
松元 藤彦 / Fujihiko Matsumoto / マツモト フジヒコ |
| 第3著者 所属（和/英） |
防衛大学校 (略称： 防衛大)
National Defense Academy (略称： NDA) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
野口 泰明 / Yasuaki Noguchi / ノグチ ヤスアキ |
| 第4著者 所属（和/英） |
防衛大学校 (略称： 防衛大)
National Defense Academy (略称： NDA) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第20著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第3著者 |
| 発表日時 |
2006-03-07 15:35:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
CAS |
| 資料番号 |
CAS2005-128, SIP2005-174, CS2005-121 |
| 巻番号（vol） |
vol.105 |
| 号番号（no） |
no.634(CAS), no.636(SIP), no.638(CS) |
| ページ範囲 |
pp.61-66 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2006-02-28 (CAS, SIP, CS) |
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