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講演抄録/キーワード
講演名 2006-05-11 12:30
カオス系列を利用したLSI検査用テストパターン生成に関する一検討
泉倉淳志土田隆輔工藤邦彦吉岡大三郎常田明夫井上高宏熊本大
抄録 (和) LSIの自己組み込みテスト(BIST)はテスト設備のコストダウンに加えて,実動作速度によるテストの品質向上が期待できるため注目を浴びている.BISTに用いられるテストパターン生成器(TPG)として,線形フィードバックシフトレジスタ(LFSR) がよく用いられているが,他にも種々のTPG がこれまで提案されている.本稿では,拡張型LFSR(e-LFSR)およびカオス系列をテストパターンとして用いてISCAS'85ベンチマーク回路の故障検出シミュレーションを行い,テストパターンの統計的性質と故障検出率との関連性について検討する. 
(英) Linear feedback shift registers (LFSRs) are extensively used in built-in self-test (BIST) as a test pattern generator (TPG). In this paper, we use extended LFSRs (e-LFSRs) and chaotic sequences for BIST in order to investigate the relationship between statistical properties of test patterns and fault coverage, where ISCAS'85 benchmark circuits are used.
キーワード (和) BIST / TPG / LFSR / カオス系列 / 故障検出率 / / /  
(英) BIST / TPG / LFSR / chaotic sequence / fault coverage / / /  
文献情報 信学技報, vol. 106, no. 30, NLP2006-1, pp. 1-4, 2006年5月.
資料番号 NLP2006-1 
発行日 2006-05-04 (NLP) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
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研究会情報
研究会 NLP  
開催期間 2006-05-11 - 2006-05-11 
開催地(和) 熊本大学工学部 
開催地(英) Kumamoto Univ. 
テーマ(和) 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 NLP 
会議コード 2006-05-NLP 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) カオス系列を利用したLSI検査用テストパターン生成に関する一検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Study on Test Pattern Generation for LSI Tests Using Chaotic Sequences 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) BIST / BIST  
キーワード(2)(和/英) TPG / TPG  
キーワード(3)(和/英) LFSR / LFSR  
キーワード(4)(和/英) カオス系列 / chaotic sequence  
キーワード(5)(和/英) 故障検出率 / fault coverage  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 泉倉 淳志 / Atsushi Izukura / イズクラ アツシ
第1著者 所属(和/英) 熊本大学 (略称: 熊本大)
Kumamoto University (略称: Kumamoto Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 土田 隆輔 / Ryusuke Tsuchida / ツチダ リュウスケ
第2著者 所属(和/英) 熊本大学 (略称: 熊本大)
Kumamoto University (略称: Kumamoto Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 工藤 邦彦 / Kunihiko Kudou / クドウ クニヒコ
第3著者 所属(和/英) 熊本大学 (略称: 熊本大)
Kumamoto University (略称: Kumamoto Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉岡 大三郎 / Daisaburo Yoshioka / ヨシオカ ダイサブロウ
第4著者 所属(和/英) 熊本大学 (略称: 熊本大)
Kumamoto University (略称: Kumamoto Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 常田 明夫 / Akio Tsuneda / ツネダ アキオ
第5著者 所属(和/英) 熊本大学 (略称: 熊本大)
Kumamoto University (略称: Kumamoto Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 高宏 / Takahiro Inoue / イノウエ タカヒロ
第6著者 所属(和/英) 熊本大学 (略称: 熊本大)
Kumamoto University (略称: Kumamoto Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2006-05-11 12:30:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 NLP 
資料番号 NLP2006-1 
巻番号(vol) vol.106 
号番号(no) no.30 
ページ範囲 pp.1-4 
ページ数
発行日 2006-05-04 (NLP) 


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