講演抄録/キーワード |
講演名 |
2006-05-11 12:30
カオス系列を利用したLSI検査用テストパターン生成に関する一検討 ○泉倉淳志・土田隆輔・工藤邦彦・吉岡大三郎・常田明夫・井上高宏(熊本大) |
抄録 |
(和) |
LSIの自己組み込みテスト(BIST)はテスト設備のコストダウンに加えて,実動作速度によるテストの品質向上が期待できるため注目を浴びている.BISTに用いられるテストパターン生成器(TPG)として,線形フィードバックシフトレジスタ(LFSR) がよく用いられているが,他にも種々のTPG がこれまで提案されている.本稿では,拡張型LFSR(e-LFSR)およびカオス系列をテストパターンとして用いてISCAS'85ベンチマーク回路の故障検出シミュレーションを行い,テストパターンの統計的性質と故障検出率との関連性について検討する. |
(英) |
Linear feedback shift registers (LFSRs) are extensively used in built-in self-test (BIST) as a test pattern generator (TPG). In this paper, we use extended LFSRs (e-LFSRs) and chaotic sequences for BIST in order to investigate the relationship between statistical properties of test patterns and fault coverage, where ISCAS'85 benchmark circuits are used. |
キーワード |
(和) |
BIST / TPG / LFSR / カオス系列 / 故障検出率 / / / |
(英) |
BIST / TPG / LFSR / chaotic sequence / fault coverage / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 30, NLP2006-1, pp. 1-4, 2006年5月. |
資料番号 |
NLP2006-1 |
発行日 |
2006-05-04 (NLP) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
PDFダウンロード |
|