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| 講演名 | 2006-05-19 13:50 高信頼メサ型IｎAlAsアバランシェフォトダイオード ○渡辺さわき・芝 和宏・水木恵美子・中田武志・牧田紀久夫（NEC） エレソ技報アーカイブへのリンク：  OPE2006-9 |
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| 抄録 | （和） | アバランシェフォトダイオード（APD）は、ギガビット帯小型受信器のキーデバイスである。近年、光アクセス系においても高感度化に対応するためにAPDの導入が検討されており、素子のさらなる高感度化、低コスト化が期待されている。本背景のもと、我々はメサ型構造を有するAPDに注目した。メサ型APDは単純構造であり、高性能化への設計指針を素子特性に反映させやすい。従来のプレーナ構造で必須な拡散・イオン注入等の煩雑なプロセスを介さないため、量産性、低コスト化に優位である。今回、メサ型InAlAs-APDを試作し、ブレークダウン電圧19.8 V、量子効率80 %（@λ=1.31 ～1.625 µm）、暗電流30 nA（@M=10）、最大帯域11 GHz、利得帯域幅積（GB積）120 GHzと実用的な特性を得た。さらに、180 ℃における高温加速試験において1000時間程度の素子寿命を確認し、素子寿命100万時間以上（@85 ℃）を実現できる見通しが得られた。 |
| （英） | High-speed and high-sensitive avalanche photodiodes (APDs) are key components in high-bit rate optical communications. Recently, the APD is becoming increasingly attractive for access network. We proposed mesa-type InAlAs-APDs. The mesa-type APDs combine high speed performance and good productivity. In this report, we describe the design and performance of mesa –type APDs with high reliability. We have demonstrated a quantum efficiency of 80 % for the wavelength range between 1.31 μm and 1.625 μm, a maximum 3dB-down bandwidth of 11 GHz and gain-bandwidth-product (GB-product) of 120 GHz. A high reliability and robustness under high input power operations are also realized. These properties are suitable for both metropolitan area network and access network. | |
| キーワード | （和） | 受光素子 / メサ型 / アバランシェフォトダイオード / 高信頼 / / / / |
| （英） | mesa / avalanche / APD / photodiode / receiver / high reliability / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 106, no. 54, OPE2006-9, pp. 11-15, 2006年5月. | |
| 資料番号 | OPE2006-9 | |
| 発行日 | 2006-05-12 (OPE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | エレソ技報アーカイブへのリンク：OPE2006-9 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OPE |
| 開催期間 | 2006-05-19 - 2006-05-19 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 光アクセスに向けた光ファイバ、光デバイス・モジュール、一般 |
| テーマ（英） | Optical fibers, devices and modules for optical access, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | OPE |
| 会議コード | 2006-05-OPE |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 高信頼メサ型IｎAlAsアバランシェフォトダイオード |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Mesa-type InAlAs Avalanche potodiodes with high reliability |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 受光素子 / mesa |
| キーワード(2)（和/英） | メサ型 / avalanche |
| キーワード(3)（和/英） | アバランシェフォトダイオード / APD |
| キーワード(4)（和/英） | 高信頼 / photodiode |
| キーワード(5)（和/英） | / receiver |
| キーワード(6)（和/英） | / high reliability |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 渡辺 さわき / Sawaki Watanabe / ワタナベ サワキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 芝 和宏 / Kazuhiro Shiba / シバ カズヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 水木 恵美子 / Emiko Mizuki / ミズキ エミコ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中田 武志 / Takeshi Nakata / ナカタ タケシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 牧田 紀久夫 / Kikuo Makita / マキタ キクオ |
| 第5著者 所属（和/英） | 日本電気株式会社 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2006-05-19 13:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | OPE |
| 資料番号 | OPE2006-9 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | no.54 |
| ページ範囲 | pp.11-15 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2006-05-12 (OPE) |
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