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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-06-14 14:45 量子暗号鍵に対する乱数検定 ～ 乱数検定合格の為の光子検出器制御方法および鍵配布方法 ～ ○田中聡寛・前田和佳子・高橋成五・田島章雄（NEC）  OCS2007-13 |
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| 抄録 | （和） | 量子暗号鍵配付によって生成する暗号鍵の偏りを解消し、乱数性を確保する安全性向上技術を確立した。装置駆動条件の経時変化に起因する選別鍵のマーク率変動を抑圧するために、選別鍵のマーク率を光子受信器の受信効率にフィードバックする偏り補償機構を提案し、長時間に渡って暗号鍵のマーク率変動を抑制することに成功した。さらに、検定全項目に合格する為には、受信器のアフターパルスに起因する局所的な“0”“1”の偏りを解消する必要があることを確認し、選択基底による出力APDの交差、及びAlice側でのマーク率モニタにより、選別鍵から最終鍵に至る各共有鍵がNIST規定の乱数検定 SP800-22の全項目に合格することを実証した。 |
| （英） | We have established key techniques to ensure the randomness of crypto-key shared using Quantum Key Distribution. We have succeeded in the suppression of a mark ratio fluctuation caused by the deterioration of the equipment operating condition, by monitoring the mark ratio and changing bias voltage given to photon detectors. We confirmed that local polarization of 0s and 1s caused by afterpulse effect of photon detectors should be reduced in order to pass the randomness test. Crossing output port of interferometer with respect to each basis and monitoring the mark ratio at Alice, we have confirmed shared key pass the randomness test at each stage from sifted to final key. | |
| キーワード | （和） | 量子暗号鍵配付 / 乱数検定 / / / / / / |
| （英） | Quantum Key Distribution / Randomness Test / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 89, OCS2007-13, pp. 19-24, 2007年6月. | |
| 資料番号 | OCS2007-13 | |
| 発行日 | 2007-06-07 (OCS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | OCS2007-13 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OCS PN CS |
| 開催期間 | 2007-06-14 - 2007-06-15 |
| 開催地（和） | 千歳科学技術大(北海道） |
| 開催地（英） | Chitose Inst. of Science and Technology |
| テーマ（和） | フォトニックネットワーク／制御，光制御（波長変換・スイッチング等），光波／量子通信，GMPLS，一般 |
| テーマ（英） | Photonic network, network control, optical switching, wavelength conversion, optical quantum communications, GMPLS, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | OCS |
| 会議コード | 2007-06-OCS-PN-CS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 量子暗号鍵に対する乱数検定 |
| サブタイトル（和） | 乱数検定合格の為の光子検出器制御方法および鍵配布方法 |
| タイトル（英） | A randomness test on a quantum crypto-key |
| サブタイトル（英） | * |
| キーワード(1)（和/英） | 量子暗号鍵配付 / Quantum Key Distribution |
| キーワード(2)（和/英） | 乱数検定 / Randomness Test |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田中 聡寛 / Akihiro Tanaka / タナカ アキヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本電気 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 前田 和佳子 / Wakako Maeda / マエダ ワカコ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本電気 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 成五 / Seigo Takahashi / タカハシ セイゴ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本電気 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田島 章雄 / Akio Tajima / タジマ アキオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本電気 (略称： NEC) NEC Corporation (略称： NEC) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-06-14 14:45:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | OCS |
| 資料番号 | OCS2007-13 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.89 |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2007-06-07 (OCS) |
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