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講演抄録/キーワード
講演名 2007-10-30 13:45
相変化メモリのリセット特性のモデリング
酒井 敦園田賢一郎茂庭昌弘石川清志土屋 修井上靖朗ルネサステクノロジVLD2007-55 SDM2007-199 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2007-199
抄録 (和) 本研究では,3次元の電気・熱伝導を考慮した相変化メモリのコンパクトモデルを開発し,リセット動作の解析を行った.
このモデルでは,相変化メモリセルの構造に依存する熱流と電流の3次元的な広がりを考慮するとともに,相変化メモリセルの熱伝導を解析する際に重要となるメモリセルと電極界面の熱抵抗についても取り込んでいる.
モデルの妥当性は,実験値との比較を通して検証した.
さらに提案したモデルを用いて,プロセスばらつきが相変化メモリの微細化に与える影響についても議論した. 
(英) A three-dimensional (3D) electro-thermal compact model for the reset operation of a phase change memory (PCM) cell is presented.
This model takes into account three-dimensional spreading of heat flux and current flow which depend on the PCM cell structure.
The interface thermal resistance, which has a crucial effect on the thermal conduction in a PCM cell, is also considered.
The accuracy of the model is confirmed by comparing the simulation results with measurement.
In addition, the scalability of PCM is also discussed from the process
fluctuation point of view.
キーワード (和) 相変化メモリ / リセット動作 / 電気・熱伝導コンパクトモデル / 界面熱抵抗 / / / /  
(英) phase change memory / reset operation / electro-thermal compact model / interface thermal resistance / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 297, SDM2007-199, pp. 23-26, 2007年10月.
資料番号 SDM2007-199 
発行日 2007-10-23 (VLD, SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2007-55 SDM2007-199 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2007-199

研究会情報
研究会 SDM VLD  
開催期間 2007-10-30 - 2007-10-31 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 
テーマ(英) Process, Device, Circuit Simulation, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2007-10-SDM-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 相変化メモリのリセット特性のモデリング 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Electro-Thermal Compact Model for Reset Operation of Phase Change Memories 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 相変化メモリ / phase change memory  
キーワード(2)(和/英) リセット動作 / reset operation  
キーワード(3)(和/英) 電気・熱伝導コンパクトモデル / electro-thermal compact model  
キーワード(4)(和/英) 界面熱抵抗 / interface thermal resistance  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 酒井 敦 / Atsushi Sakai / サカイ アツシ
第1著者 所属(和/英) 株式会社 ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corporation (略称: Renesas Technology Corp.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 園田 賢一郎 / Kenichiro Sonoda / ソノダ ケンイチロウ
第2著者 所属(和/英) 株式会社 ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corporation (略称: Renesas Technology Corp.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 茂庭 昌弘 / Masahiro Moniwa / モニワ マサヒロ
第3著者 所属(和/英) 株式会社 ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corporation (略称: Renesas Technology Corp.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 石川 清志 / Kiyoshi Ishikawa / イシカワ キヨシ
第4著者 所属(和/英) 株式会社 ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corporation (略称: Renesas Technology Corp.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 土屋 修 / Osamu Tsuchiya / ツチヤ オサム
第5著者 所属(和/英) 株式会社 ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corporation (略称: Renesas Technology Corp.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 靖朗 / Yasuo Inoue / イノウエ ヤスオ
第6著者 所属(和/英) 株式会社 ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corporation (略称: Renesas Technology Corp.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-10-30 13:45:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 VLD2007-55, SDM2007-199 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.295(VLD), no.297(SDM) 
ページ範囲 pp.23-26 
ページ数
発行日 2007-10-23 (VLD, SDM) 


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