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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2007-11-22 09:25 測定データの異常値除去方法 ～ 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法 ～ ○大川眞一・増田弘生（ルネサステクノロジ）  VLD2007-90 DC2007-45 |
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| 抄録 | （和） | ＶＬＳＩ設計における素子ばらつきの考慮は、現在、そして未来おける重大関心事である。しかも、素子測定、ばらつきのモデリング、設計への反映の各段階において、新たなる技術開発のステップが多数存在する。そしてその多くは独自の基本概念を必要とする革新的技術である。 そのような多数の課題の一つ、測定データの異常値除去の方法を新たに開発した。基本統計量の歪度を応用している。正常データに対する副作用は少なく、異常なデータを効率的に除去することができる。素子ばらつきの評価に必要な、大規模測定の信頼性を、著しく向上させることが可能になる。 |
| （英） | Consideration of device variation in VLSI design, at present or in future, is very important concerns. Moreover, in each stage of device measurement, variation modeling or reflection on design, there are many steps of developments of technology. And then, many technologies are novel one needing unique basic concept. As one of such many problems, we have developed a new technique which eliminates irregular data in measured values. Skewness of basic statistic is applied to this. Side effects are small for regular data, while it eliminates irregular data efficiently A Reliability of large scale measurements, which is needed for evaluation of devise variation, is remarkably improved. |
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| キーワード | （和） | ＬＳＩ / 設計 / ばらつき / 測定 / 異常値 / スクリーニング / / |
| （英） | LSI / design / variation / irregular value / screening / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 336, VLD2007-90, pp. 7-12, 2007年11月. | |
| 資料番号 | VLD2007-90 | |
| 発行日 | 2007-11-15 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2007-90 DC2007-45 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD CPSY RECONF DC IPSJ-SLDM IPSJ-ARC |
| 開催期間 | 2007-11-20 - 2007-11-22 |
| 開催地（和） | 北九州国際会議場 |
| 開催地（英） | Kitakyushu International Conference Center |
| テーマ（和） | デザインガイア2007 ―VLSI設計の新しい大地を考える研究会― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2007 ---A New Frontier in VLSI Design--- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2007-11-VLD-CPSY-RECONF-DC-IPSJ-SLDM-IPSJ-ARC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 測定データの異常値除去方法 |
| サブタイトル（和） | 基本統計量の歪度を用いたデータスクリーニング手法 |
| タイトル（英） | A New Technique for Elimination of Irregular Data in Measured Values |
| サブタイトル（英） | A Data Screening Technique Appling Skewness of Basic Statistic |
| キーワード(1)（和/英） | ＬＳＩ / LSI |
| キーワード(2)（和/英） | 設計 / design |
| キーワード(3)（和/英） | ばらつき / variation |
| キーワード(4)（和/英） | 測定 / irregular value |
| キーワード(5)（和/英） | 異常値 / screening |
| キーワード(6)（和/英） | スクリーニング / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大川 眞一 / Shin-ichi Ohkawa / オオカワ インイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | ルネサステクノロジ (略称： ルネサステクノロジ) Renesas Technology (略称： Renesas) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 増田 弘生 / Hiroo Masuda / |
| 第2著者 所属（和/英） | ルネサステクノロジ (略称： ルネサステクノロジ) Renesas Technology (略称： Renesas) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2007-11-22 09:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2007-90, DC2007-45 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.336(VLD), no.339(DC) |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2007-11-15 (VLD, DC) |
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