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| 講演名 | 2008-06-26 16:30 宇宙用論理LSIで発生する放射線誘起スパイクノイズの研究(仮) ○牧野高紘（総研大）・柳川善光（東大）・小林大輔（総研大/JAXA）・福田盛介（JAXA）・廣瀬和之・池田博一（総研大/JAXA）・斎藤宏文（東大/JAXA）・小野田 忍・平尾敏雄・大島 武（原子力機構）・高橋大輔・石井 茂・草野将樹・池淵 博・黒田能克（三菱重工）  SANE2008-25 |
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| 抄録 | （和） | 放射線によって論理LSI内に誘起されるスパイクノイズがソフトエラー源として顕在化してきている． 論理LSIはチップ内部に多数のフリップフロップ(FF)やラッチ回路を保持しており，その記憶データが反転するとソフトエラーが起きる． 論理LSIでは，放射線がFFやラッチ回路に当たってソフトエラーが起きるだけでなく，組み合わせ論理回路に当たって発生するスパイクノイズによってもソフトエラーが起きる． 発生するスパイクノイズの長さが長くなるとソフトエラーの発生率が増加してしまう． そのため，スパイクノイズの放射線入射LET依存性を測定した． また，放射線がFFやラッチ回路に当たって発生するソフトエラーだけでなく，組み合わせ論理回路に当たって発生するソフトエラー両方の影響をそれぞれ評価する必要がある． さらに各FF でどれだけデータが反転，すなわちソフトエラーが起きたか知る必要がある． これらの要求を満たす新しいLSIテスト技術を開発し，その妥当性を実証した． |
| （英） | SET pulse-widths were measured as a function of LET by using pulse capture circuits. In addition, a scan flip-flop (FF) is designed to observe both single event transient (SET) and single event upset (SEU) soft errors in logic VLSI system. |
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| キーワード | （和） | ソフトエラー / 論理LSI / LSIテスト技術 / スパイクノイズ / / / / |
| （英） | Soft error / Logic VLSI / Single event transient / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 100, SANE2008-25, pp. 67-72, 2008年6月. | |
| 資料番号 | SANE2008-25 | |
| 発行日 | 2008-06-19 (SANE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SANE2008-25 |
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