研究会情報 |
研究会 |
R |
開催期間 |
2008-11-14 - 2008-11-14 |
開催地(和) |
中央電気倶楽部 |
開催地(英) |
Chuo denki Club |
テーマ(和) |
電子デバイスの信頼性, 信頼性一般 |
テーマ(英) |
Electronics Device, Reliability, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
R |
会議コード |
2008-11-R |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
半導体デバイスのデバイス帯電系ESD試験方法の検討 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Study of ESD Examination Method for Charged Device Model |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
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キーワード(2)(和/英) |
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キーワード(3)(和/英) |
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キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
片岡 資晴 / Yoshiharu Kataoka / カタオカ ヨシハル |
第1著者 所属(和/英) |
パナソニック株式会社 (略称: パナソニック)
Panasonic Corporation (略称: Panasonic) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
三口 宗彦 / Munehiko Miguchi / ミグチ ムネヒコ |
第2著者 所属(和/英) |
パナソニック株式会社 (略称: パナソニック)
Panasonic Corporation (略称: Panasonic) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
中野 真治 / Shinji Nakan / ナカノ シンジ |
第3著者 所属(和/英) |
パナソニック株式会社 (略称: パナソニック)
Panasonic Corporation (略称: Panasonic) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
和田 哲明 / Tetsuaki Wada / ワダ テツアキ |
第4著者 所属(和/英) |
パナソニック株式会社 (略称: パナソニック)
Panasonic Corporation (略称: Panasonic) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 所属(和/英) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 所属(和/英) |
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第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2008-11-14 14:25:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
R |
資料番号 |
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巻番号(vol) |
vol.108 |
号番号(no) |
no.295 |
ページ範囲 |
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ページ数 |
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発行日 |
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