講演抄録/キーワード |
講演名 |
2008-11-27 10:55
ZnO基板上への非極性面III族窒化物半導体の成長と評価 ○小林 篤・上野耕平・下元一馬・太田実雄(東大)・藤岡 洋・尾嶋正治(東大/JST)・天内英貴・長尾 哲・堀江秀善(三菱化学) ED2008-155 CPM2008-104 LQE2008-99 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2008-155 CPM2008-104 LQE2008-99 |
抄録 |
(和) |
これまで格子整合性が低い異種基板上へのヘテロエピタキシャル成長を余儀なくされ,十分な結晶品質が得られなかった非極性面?族窒化物半導体であるが,格子整合基板であるZnOを用いることでその結晶性を大幅に向上させることに成功した.ZnOが化学的,熱的に不安定性であることから,成長中に?族窒化物とZnOが反応してしまうという問題が指摘されていたが,我々が開発した室温エピタキシャル成長技術を用いることで高品質な非極性面ヘテロ界面が実現し,この問題を解決できることが分かった. |
(英) |
We have succeeded in epitaxial growth of high-quality nonpolar and semipolar (Al,In,Ga)N films on ZnO substrates using room temperature growth technique by pulsed excitation deposition (PXD). ZnO is a chemically vulnerable material at elevated temperatures although it gives small lattice mismatches to III-nitrides and shares the same crystal symmetry. Therefore, it is difficult to grow high-quality films on ZnO substrates by conventional MOCVD or MBE techniques. On the other hand, the use of PXD allows us to grow nitrides at low temperatures thanks to high kinetic energy of film precursors. |
キーワード |
(和) |
?族窒化物半導体 / 非極性面 / ZnO / パルス励起堆積法 / 低温成長 / / / |
(英) |
Group-III nitrides / nonpolar / semipolar / ZnO / pulsed excitation deposition / low-temperature growth / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 108, no. 323, LQE2008-99, pp. 17-20, 2008年11月. |
資料番号 |
LQE2008-99 |
発行日 |
2008-11-20 (ED, CPM, LQE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
ED2008-155 CPM2008-104 LQE2008-99 エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2008-155 CPM2008-104 LQE2008-99 |