| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2009-11-27 09:30
フォトニックネットワークにおけるクロストークによる符号誤り率の劣化
○大西祐裕・阿部真弓（東京電機大）・山口義昭（日本工大）・吉野隆幸（東京電機大） |
| 抄録 |
（和） |
フォトニックネットワークにおいて, 光クロストークが信号光とともに受信器に到達すると, レーザ光の位相ゆらぎが強度ゆらぎに変換されて光強度にゆらぎをもたらす. 本稿では, 信号光と周波数が等しく, かつ無相関な位相ゆらぎを持つクロストーク光が混入した場合の符号誤り率についての検討を行った. まず, 強度ゆらぎの確率密度関数を厳密に導出し, それを用いてクロストークによる符号誤り率の劣化量とパワーペナルティーを正確に導出した. 次いで, これらの諸結果の妥当性を確認するための実験を行い, 実験結果が理論値とよく合致することを示した. |
| （英） |
WDM components used for routing in photonic networks lead to crosstalk. System performance degrades whenever the desired signal is accompanied by interfering signals resulting from crosstalk. In this report, we consistently focus on system performance, such as bit-error rate (BER), degraded by crosstalk. Based on accurate theoretical-analysis on the probability density function of intensity fluctuation, bit-error rate is calculated directly from it, which makes it possible to lead to the exact BER estimation. Further, its validity is demonstrated by attempting laboratory experiments. |
| キーワード |
（和） |
クロストーク / フォトニックネットワーク / 確率密度関数 / 強度ゆらぎ / 符号誤り率 / / / |
| （英） |
crosstalk / photonic network / probability density function / intensity fluctuation / bit-error rate / / / |
| 文献情報 |
信学技報 |
| 資料番号 |
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| 発行日 |
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| ISSN |
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| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
PN |
| 開催期間 |
2009-11-27 - 2009-11-27 |
| 開催地（和） |
日本女子大学 |
| 開催地（英） |
Japan Women's University |
| テーマ（和） |
フォトニックネットワークシステム・デバイス・ブロードバンドアプリケーション・一般 |
| テーマ（英） |
Photonic Network Systems, Optical Devices, Broadband Applications, General Issues, etc. |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
PN |
| 会議コード |
2009-11-PN |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
フォトニックネットワークにおけるクロストークによる符号誤り率の劣化 |
| サブタイトル（和） |
|
| タイトル（英） |
Bit-Error Rate degradation due to Crosstalks in Photonic Networks |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
クロストーク / crosstalk |
| キーワード(2)（和/英） |
フォトニックネットワーク / photonic network |
| キーワード(3)（和/英） |
確率密度関数 / probability density function |
| キーワード(4)（和/英） |
強度ゆらぎ / intensity fluctuation |
| キーワード(5)（和/英） |
符号誤り率 / bit-error rate |
| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
大西 祐裕 / Yoshihiro Onishi / オオニシ ヨシヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） |
東京電機大学 (略称： 東京電機大)
Tokyo Denki University (略称： Tokyo Denki Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
阿部 真弓 / Mayumi Abe / アベ マユミ |
| 第2著者 所属（和/英） |
東京電機大学 (略称： 東京電機大)
Tokyo Denki University (略称： Tokyo Denki Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
山口 義昭 / Yoshiaki Yamaguchi / ヤマグチ ヨシアキ |
| 第3著者 所属（和/英） |
日本工業大学 (略称： 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
吉野 隆幸 / Takayuki Yoshino / |
| 第4著者 所属（和/英） |
東京電機大学 (略称： 東京電機大)
Tokyo Denki University (略称： Tokyo Denki Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第36著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2009-11-27 09:30:00 |
| 発表時間 |
20分 |
| 申込先研究会 |
PN |
| 資料番号 |
|
| 巻番号（vol） |
vol.109 |
| 号番号（no） |
no.311 |
| ページ範囲 |
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| ページ数 |
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| 発行日 |
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