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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-01-24 13:05 ［招待講演］タイプII構造の集積型極低温電流比較器の設計 ○山田隆宏・前澤正明・丸山道隆・大江武彦・浦野千春・金子晋久（産総研）・日高睦夫・佐藤哲朗・永沢秀一・日野出憲治（国際超電導産技研センター）  SCE2010-41 エレソ技報アーカイブへのリンク：SCE2010-41 |
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| 抄録 | （和） | II型のICCCの設計のため、その要素回路の超伝導体インダクタンスについて、市販の電磁界解析ソフトを用いた計算方法の検討を行った。まず、フリップチップ接続型超伝導量子干渉素子(SQUID)のインダクタンスについて解析し、測定結果と比べて20%程度の範囲内で一致した。次いで、II型ICCCのインダクタンスについても計算も行い、近似式により計算した結果とオーダー的に一致した。最後に、それらの計算結果を用いて、II型ICCCの設計指針を作成した。6層配線を用いて線幅/線間 = 1.5 um/1.5 umの設計ルールで18 mm角チップ内に搭載する場合、50000ターンの巻き線を集積することができ、巻き線一巻きあたりに流れる入力電流に対するSQUID磁束計の感度として0.32 pH/turnを得られることがわかった。 |
| （英） | We calculated superconductor inductances of a type-II integrated cryogenic current comparator (ICCC). First, inductances of a flip-chip-based superconducting quantum interference device (SQUID) were calculated using an electromagnetic field simulator. The results agreed with experimental results within an error of 20%. The simulations were also done for the type-II ICCC. The results showed an agreement with the approximated formula within an error of 50%. Finally, we made guidelines for designing the type-II ICCC based on those simulated results. We concluded that the number of winding turns of 50000 and a sensitivity of 0.32 pH/turn will be obtained by using six superconducting layers with a line & space of 1.5 um & 1.5 um on an 18 mm x 18 mm chip. | |
| キーワード | （和） | 極低温電流比較器 / 集積型極低温電流比較器 / 超伝導回路 / ソレノイド / 超伝導量子干渉素子 / インダクタンス / 電磁界解析 / |
| （英） | Cryogenic Current Comparator / Integrated Cryogenic Current Comparator / Superconducting Circuit / Solenoid / Superconducting Quantum Interference Device / Inductance / Electromagnetic Analysis / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 385, SCE2010-41, pp. 29-34, 2011年1月. | |
| 資料番号 | SCE2010-41 | |
| 発行日 | 2011-01-17 (SCE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SCE2010-41 エレソ技報アーカイブへのリンク：SCE2010-41 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
| 開催期間 | 2011-01-24 - 2011-01-24 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg |
| テーマ（和） | 超伝導センシング基盤技術及びその応用、一般 |
| テーマ（英） | Superconducting sensing technologies and their applications, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SCE |
| 会議コード | 2011-01-SCE |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | タイプII構造の集積型極低温電流比較器の設計 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An integrated cryogenic current comparator with type-II structure |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 極低温電流比較器 / Cryogenic Current Comparator |
| キーワード(2)（和/英） | 集積型極低温電流比較器 / Integrated Cryogenic Current Comparator |
| キーワード(3)（和/英） | 超伝導回路 / Superconducting Circuit |
| キーワード(4)（和/英） | ソレノイド / Solenoid |
| キーワード(5)（和/英） | 超伝導量子干渉素子 / Superconducting Quantum Interference Device |
| キーワード(6)（和/英） | インダクタンス / Inductance |
| キーワード(7)（和/英） | 電磁界解析 / Electromagnetic Analysis |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山田 隆宏 / Takahiro Yamada / ヤマダ タカヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial and Science Technology (略称： AIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 前澤 正明 / Masaaki Maezawa / マエザワ マサアキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial and Science Technology (略称： AIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 丸山 道隆 / Michitaka Maruyama / マルヤマ ミチタカ |
| 第3著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial and Science Technology (略称： AIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大江 武彦 / Takehiko Oe / オオエ タケヒコ |
| 第4著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial and Science Technology (略称： AIST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 浦野 千春 / Chiharu Urano / ウラノ チハル |
| 第5著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial and Science Technology (略称： AIST) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 金子 晋久 / Nobu-hisa Kaneko / カネコ ノブヒサ |
| 第6著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial and Science Technology (略称： AIST) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 日高 睦夫 / Mutsuo Hidaka / ヒダカ ムツオ |
| 第7著者 所属（和/英） | 国際超電導産業技術研究センター (略称： 国際超電導産技研センター) International Superconductivity Technology Center (略称： ISTEC) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 哲朗 / Tetsuro Satoh / サトウ テツロウ |
| 第8著者 所属（和/英） | 国際超電導産業技術研究センター (略称： 国際超電導産技研センター) International Superconductivity Technology Center (略称： ISTEC) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永沢 秀一 / Shuichi Nagasawa / ナガサワ シュウイチ |
| 第9著者 所属（和/英） | 国際超電導産業技術研究センター (略称： 国際超電導産技研センター) International Superconductivity Technology Center (略称： ISTEC) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | 日野出 憲治 / Kenji Hinode / ヒノデ ケンジ |
| 第10著者 所属（和/英） | 国際超電導産業技術研究センター (略称： 国際超電導産技研センター) International Superconductivity Technology Center (略称： ISTEC) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-01-24 13:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | SCE |
| 資料番号 | SCE2010-41 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.385 |
| ページ範囲 | pp.29-34 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-01-17 (SCE) |
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