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講演抄録/キーワード
講演名 2011-11-30 10:30
オンチップ診断機構とDPIを用いたSRAMコアのイミュニティ評価
澤田卓也利川 托吉川薫平神戸大)・高田英裕新居浩二ルネサス エレクトロニクス)・永田 真神戸大/JSTCPM2011-165 ICD2011-97 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2011-165 ICD2011-97
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 111, no. 327, ICD2011-97, pp. 85-90, 2011年11月.
資料番号 ICD2011-97 
発行日 2011-11-21 (CPM, ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPM2011-165 ICD2011-97 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2011-165 ICD2011-97

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2011-11-28 - 2011-11-30 
開催地(和) ニューウェルシティ宮崎 
開催地(英) NewWelCity Miyazaki 
テーマ(和) デザインガイア2011 -VLSI設計の新しい大地― 
テーマ(英) Design Gaia 2010 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2011-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) オンチップ診断機構とDPIを用いたSRAMコアのイミュニティ評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Immunity Evaluation of SRAM Core Using DPI with On-Chip Diagnosis Structures 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤田 卓也 / Takuya Sawada / サワダ タクヤ
第1著者 所属(和/英) 神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 利川 托 / Taku Toshikawa / トシカワ タク
第2著者 所属(和/英) 神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 吉川 薫平 / Kumpei Yoshikawa / ヨシカワ クンペイ
第3著者 所属(和/英) 神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 高田 英裕 / Hidehiro Takata / タカタ ヒデヒロ
第4著者 所属(和/英) ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics Corp.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 新居 浩二 / Koji Nii / ニイ コウジ
第5著者 所属(和/英) ルネサス エレクトロニクス株式会社 (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics Corporation (略称: Renesas Electronics Corp.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト
第6著者 所属(和/英) 神戸大学 (略称: 神戸大/JST)
Kobe University (略称: Kobe Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-11-30 10:30:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 CPM2011-165, ICD2011-97 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.326(CPM), no.327(ICD) 
ページ範囲 pp.85-90 
ページ数
発行日 2011-11-21 (CPM, ICD) 


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