講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-02-17 15:30
接点形状と電気的耐久性の相関について ○竹内史典・高見幸二・森 哲也(オムロン) R2011-51 EMD2011-125 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2011-125 |
抄録 |
(和) |
パワーリレーにおいて、一般的に接点体積を小さくすれば電気的耐久性が低下する。しかし、リレーの小型化や省資源化の観点から、電気的耐久性を維持したまま接点体積を小さくすることが求められている。本研究では、形状の異なる2種類の接点を作製し、電気的耐久性試験の結果から、現象面の違いについて、考察を行った。その結果、接点形状によって、故障に至るプロセスが異なることを確認した。 |
(英) |
In power relay, smaller contact volume generally leads to lower electrical endurance. However, for requirement of device-downsizing and provision of depleted resources, contacts have been reduced volume with equivalent electrical characteristics. In this paper, 2 shapes of contact produced experimentally are examined by electrical endurance and analyzed in a view of failure mode. As the result, a process of failure varies according to contact shapes. |
キーワード |
(和) |
電気的耐久性 / 接点形状 / 復帰不良 / そり / / / / |
(英) |
Electrical endurance / Contact shape / Reset failure / Warpage / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 111, no. 439, EMD2011-125, pp. 51-54, 2012年2月. |
資料番号 |
EMD2011-125 |
発行日 |
2012-02-10 (R, EMD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
R2011-51 EMD2011-125 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2011-125 |
研究会情報 |
研究会 |
EMD R |
開催期間 |
2012-02-17 - 2012-02-17 |
開催地(和) |
オムロンラーニングセンタ |
開催地(英) |
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テーマ(和) |
機構デバイスの信頼性,信頼性一般 (共催:継電器・コンタクトテクノロジ研究会,協賛:IEEE CPMT JAPAN) |
テーマ(英) |
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講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
EMD |
会議コード |
2012-02-EMD-R |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
接点形状と電気的耐久性の相関について |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Relationship between Electrical Contact Shapes and Electrical Endurance |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
電気的耐久性 / Electrical endurance |
キーワード(2)(和/英) |
接点形状 / Contact shape |
キーワード(3)(和/英) |
復帰不良 / Reset failure |
キーワード(4)(和/英) |
そり / Warpage |
キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
竹内 史典 / Fuminori Takeuchi / タケウチ フミノリ |
第1著者 所属(和/英) |
オムロン株式会社 (略称: オムロン)
OMRON Corporation (略称: OMRON) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
高見 幸二 / Koji Takami / タカミ コウジ |
第2著者 所属(和/英) |
オムロン株式会社 (略称: オムロン)
OMRON Corporation (略称: OMRON) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
森 哲也 / Tetsuya Mori / モリ テツヤ |
第3著者 所属(和/英) |
オムロン株式会社 (略称: オムロン)
OMRON Corporation (略称: OMRON) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2012-02-17 15:30:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
EMD |
資料番号 |
R2011-51, EMD2011-125 |
巻番号(vol) |
vol.111 |
号番号(no) |
no.438(R), no.439(EMD) |
ページ範囲 |
pp.51-54 |
ページ数 |
4 |
発行日 |
2012-02-10 (R, EMD) |
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