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講演抄録/キーワード
講演名 2012-06-27 11:45
[招待講演]Plasmonic Terahertz Wave Detectors Based on Silicon Field-Effect Transistors
Kyung Rok KimMin Woo RyuSunhae ShinHee Cheol HwangKibog ParkUNIST)   エレソ技報アーカイブはこちら
抄録 (和) We report the first implementation of a modeling and simulation environment for the plasmonic terahertz (THz) detector based on the silicon (Si) field-effect transistor (FET) with a technology computer-aided design (TCAD) platform. The nonresonant plasmonic behavior has been modeled by introducing a quasi-plasma electron box as a two-dimensional electron gas (2DEG) in the channel region. The alternate-current (AC) signal as an incoming THz wave radiation successfully induced a direct-current (DC) drain-to-source voltage as a detection signal in the broadband sub-THz frequency regime. The simulated dependences of photo-induced DC detection signals on structural parameters such as gate length and dielectric thickness confirmed the operation principle of the nonresonant plasmonic THz detector in the Si FET structure. We evaluated the design specifications of THz detectors considering both responsivity and noise equivalent power (NEP) as the typical performance metrics. The proposed methodologies provide the physical design platform for developing novel plasmonic THz detectors operating in the nonresonant detection mode. 
(英) We report the first implementation of a modeling and simulation environment for the plasmonic terahertz (THz) detector based on the silicon (Si) field-effect transistor (FET) with a technology computer-aided design (TCAD) platform. The nonresonant plasmonic behavior has been modeled by introducing a quasi-plasma electron box as a two-dimensional electron gas (2DEG) in the channel region. The alternate-current (AC) signal as an incoming THz wave radiation successfully induced a direct-current (DC) drain-to-source voltage as a detection signal in the broadband sub-THz frequency regime. The simulated dependences of photo-induced DC detection signals on structural parameters such as gate length and dielectric thickness confirmed the operation principle of the nonresonant plasmonic THz detector in the Si FET structure. We evaluated the design specifications of THz detectors considering both responsivity and noise equivalent power (NEP) as the typical performance metrics. The proposed methodologies provide the physical design platform for developing novel plasmonic THz detectors operating in the nonresonant detection mode.
キーワード (和) plasmonic THz detector / field-effect transistor / technology computer-aided design / nonresonant / two-dimensional electron gas / responsivity / noise equivalent power / design platform  
(英) plasmonic THz detector / field-effect transistor / technology computer-aided design / nonresonant / two-dimensional electron gas / responsivity / noise equivalent power / design platform  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN  
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研究会情報
研究会 SDM ED  
開催期間 2012-06-27 - 2012-06-29 
開催地(和) 沖縄県青年会館 
開催地(英) Okinawa Seinen-kaikan 
テーマ(和) 2012 先端半導体デバイスの基礎と応用に関するアジア太平洋ワークショップ 
テーマ(英) 2012 Asia-Pacific Workshop on Fundamentals and Applications of Advanced Semiconductor Devices 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2012-06-SDM-ED 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Plasmonic Terahertz Wave Detectors Based on Silicon Field-Effect Transistors 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) plasmonic THz detector / plasmonic THz detector  
キーワード(2)(和/英) field-effect transistor / field-effect transistor  
キーワード(3)(和/英) technology computer-aided design / technology computer-aided design  
キーワード(4)(和/英) nonresonant / nonresonant  
キーワード(5)(和/英) two-dimensional electron gas / two-dimensional electron gas  
キーワード(6)(和/英) responsivity / responsivity  
キーワード(7)(和/英) noise equivalent power / noise equivalent power  
キーワード(8)(和/英) design platform / design platform  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Kyung Rok Kim / Kyung Rok Kim /
第1著者 所属(和/英) Ulsan National Institute of Science and Technology (略称: UNIST)
Ulsan National Institute of Science and Technology (略称: UNIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Min Woo Ryu / Min Woo Ryu /
第2著者 所属(和/英) Ulsan National Institute of Science and Technology (略称: UNIST)
Ulsan National Institute of Science and Technology (略称: UNIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Sunhae Shin / Sunhae Shin /
第3著者 所属(和/英) Ulsan National Institute of Science and Technology (略称: UNIST)
Ulsan National Institute of Science and Technology (略称: UNIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) Hee Cheol Hwang / Hee Cheol Hwang /
第4著者 所属(和/英) Ulsan National Institute of Science and Technology (略称: UNIST)
Ulsan National Institute of Science and Technology (略称: UNIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) Kibog Park / Kibog Park /
第5著者 所属(和/英) Ulsan National Institute of Science and Technology (略称: UNIST)
Ulsan National Institute of Science and Technology (略称: UNIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-06-27 11:45:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 SDM 
資料番号  
巻番号(vol) vol. 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


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