| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-11-26 13:00 ［招待講演］組込み自己テストによるフィールド高信頼化について ○梶原誠司（九工大）  VLD2012-65 DC2012-31 |
|
| 抄録 | （和） | 出荷後のシステムにおいて，パワーオン時間等の空き時間を利用したオンラインテストにより回路の遅延を測定することで，回路の遅延マージンや劣化を検知できる．こうしたテストで，劣化に起因する故障を予知できるため，システムに突然発生する障害を予防でき，システムの高信頼化が可能になる．本講演では，フィールド高信頼化のための組込み自己テストに関連して，生産テストとフィールドテストの違いを述べ，JST CRESTのプロジェクトにおいて開発してきた，DARTと名付けられたフィールド高信頼化のためのテスト技術を紹介する． |
| （英） | On-line test based on delay measurement at power-on/off time or at system idle time of a system allows us to detect delay degradation of logic circuits and confirm their marginality. Such a test can predict a circuit failure caused by circuit aging. Therefore it is useful to avoid sudden system down, and we can make the system to be reliable. In this talk we discuss on the required features that differentiate field test from traditional manufacturing test, with respect to BIST (built-in self test) for high field reliability, and then introduce test technology DART that we recently developed in a JST CREST project. | |
| キーワード | （和） | ディペンダビリティ / オンラインテスト / 組込み自己テスト / フォールトトレランス / / / / |
| （英） | Dependability / On-line test / Built-In self test, / Fault tolerance / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 320, VLD2012-65, pp. 37-42, 2012年11月. | |
| 資料番号 | VLD2012-65 | |
| 発行日 | 2012-11-19 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2012-65 DC2012-31 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2012-11-26 - 2012-11-28 |
| 開催地（和） | 九州大学百年講堂 |
| 開催地（英） | Centennial Hall Kyushu University School of Medicine |
| テーマ（和） | デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2012 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2012-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 組込み自己テストによるフィールド高信頼化について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | High Field Reliability Using Built-In Self Test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ディペンダビリティ / Dependability |
| キーワード(2)（和/英） | オンラインテスト / On-line test |
| キーワード(3)（和/英） | 組込み自己テスト / Built-In self test, |
| キーワード(4)（和/英） | フォールトトレランス / Fault tolerance |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyutech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第2著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第3著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第4著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-11-26 13:00:00 |
| 発表時間 | 50分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2012-65, DC2012-31 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.320(VLD), no.321(DC) |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-11-19 (VLD, DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]