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講演抄録/キーワード
講演名 2012-11-29 14:30
Influence to Measurement Level by Difference of Measurement Circuit
Yoshihiko AbeNobuo KuwabaraKIT)・Hidenori MuramatsuVCCI)・Toshiki ShimasakiNEC Engineering, Ltd.
抄録 (和) Influence to measurement level was evaluated by using three types of measurement circuit(called test board). The ratio of disturbance source voltage to current of the circuit was calculated by FDTD method and was measured by a network analyzer. The signal source whose source impedance was 50 ohm was used as the disturbance source. The measurement results agreed with the calculation results in the frequency range less than 3GHz. However, the deviation increased at higher frequencies caused by imperfection of the test board. The results also suggested that the measurement level deviation appeared at the area where the de-coupling factor was small. 
(英) Influence to measurement level was evaluated by using three types of measurement circuit(called test board). The ratio of disturbance source voltage to current of the circuit was calculated by FDTD method and was measured by a network analyzer. The signal source whose source impedance was 50 ohm was used as the disturbance source. The measurement results agreed with the calculation results in the frequency range less than 3GHz. However, the deviation increased at higher frequencies caused by imperfection of the test board. The results also suggested that the measurement level deviation appeared at the area where the de-coupling factor was small.
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文献情報 信学技報
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研究会情報
研究会 EMCJ  
開催期間 2012-11-29 - 2012-11-30 
開催地(和) 情報通信研究機構 小金井本部 
開催地(英) NICT 
テーマ(和) 第5回 環太平洋地域環境電磁工学合同会議 - PPEMC’12 
テーマ(英) 5th Pan-Pacific EMC Joint Meeting - PPEMC’12 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2012-11-EMCJ 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Influence to Measurement Level by Difference of Measurement Circuit 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Yoshihiko Abe / Yoshihiko Abe /
第1著者 所属(和/英) Kyushu Institute of Technology (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Nobuo Kuwabara / Nobuo Kuwabara /
第2著者 所属(和/英) Kyushu Institute of Technology (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Hidenori Muramatsu / Hidenori Muramatsu /
第3著者 所属(和/英) VCCI Council (略称: VCCI協会)
VCCI Council (略称: VCCI)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) Toshiki Shimasaki / Toshiki Shimasaki /
第4著者 所属(和/英) NEC Engineering, Ltd. (略称: NEC Engineering, Ltd.)
NEC Engineering, Ltd. (略称: NEC Engineering, Ltd.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-11-29 14:30:00 
発表時間 15分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号  
巻番号(vol) vol. 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


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