| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-03-05 13:00 SOTBでのDVSに向けた温度モニタ回路の検討 ○和田達矢・宇佐美公良（芝浦工大）  VLD2013-160 |
|
| 抄録 | （和） | 薄膜BOX-SOI(Silicon on Thin Buried Oxide: SOTB) は、低電圧で高速動作が可能である。しかし、温度変化による遅延時間や消費電力のバラツキが大きくなるため、バラツキ補正が必要である。この問題を解決するために、本論文では2電源によるDVSを8ビット順次桁上げ加算器（RCA）に適用した。その結果、一定の遅延時間制約を満たしつつ、ダイナミック電力を最大で70%、非動作時の消費電力を最大で53％低減できることが分かった。また、2電源DVSに向けた温度モニタ回路に、リークモニタ回路を使用することで、従来研究より最大11%低い消費電力で動作する温度モニタを提案する。 |
| （英） | SOTB (Silicon on Thin Buried Oxide) transistors can operate at high speed in the ultra-low voltage. However, variation in circuit delay and power by change of temperature becomes large. In this paper, we apply DVS with two supply voltages to 8-bit RCA using SOTB to solve this problem. We demonstrate that dynamic power consumption of RCA can be reduced by up to 70% and static power consumption can be reduced up to 53%. Moreover, the thermal monitor using a leakage monitor circuit consumes up to 11% less power than the conventional counterpart. | |
| キーワード | （和） | 低消費電力 / SOTB / DVS / リークモニタ / 温度モニタ / / / |
| （英） | Low Power / SOTB / DVS / Leakage Monitor / Thermal Monitor / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 454, VLD2013-160, pp. 141-146, 2014年3月. | |
| 資料番号 | VLD2013-160 | |
| 発行日 | 2014-02-24 (VLD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2013-160 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
| 開催期間 | 2014-03-03 - 2014-03-05 |
| 開催地（和） | 沖縄県青年会館 |
| 開催地（英） | Okinawa Seinen Kaikan |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術 |
| テーマ（英） | Design Technology for System-on-Silicon |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2014-03-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | SOTBでのDVSに向けた温度モニタ回路の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Investigation of thermal monitor for applying to Dynamic Voltage Scaling in SOTB |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 低消費電力 / Low Power |
| キーワード(2)（和/英） | SOTB / SOTB |
| キーワード(3)（和/英） | DVS / DVS |
| キーワード(4)（和/英） | リークモニタ / Leakage Monitor |
| キーワード(5)（和/英） | 温度モニタ / Thermal Monitor |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 達矢 / Tatsuya Wada / ワダ タツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： Shibaura Inst. of Tech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宇佐美 公良 / Kimiyoshi Usami / ウサミ キミヨシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： Shibaura Inst. of Tech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第3著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第4著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第5著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第6著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第7著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第8著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第9著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第10著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第11著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第12著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第13著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第14著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第15著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第16著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第17著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
| 第18著者 所属（和/英） | (略称： ) (略称： ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-03-05 13:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2013-160 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.454 |
| ページ範囲 | pp.141-146 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-02-24 (VLD) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]