お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2015-07-31 15:00
[奨励講演]ソフトウェア開発品質におけるバグ密度特性と類似性への一考察
小澤 孝高橋 徹NTTNS2015-65
抄録 (和) 現在のソフトウェア開発における品質管理は、ソフトウェア品質の良し悪しを図るためにバグ密度における指標値を設定し、指標値の上方と下方に管理限界(管理範囲)を設けることが一般的である.指標値及び管理限界範囲は、過去のソフトウェアの開発規模/バグ数から算出するため、開発対象ソフトウェアの類似性の高いソフトウェアを適用する必要がある.そこで、筆者らは複数のソフトウェアにおいて、バグ密度特性(U管理図)及び開発期間等に対するユークリッド距離から算出する類似度を比較した.また、算出したバグ密度特性と類似性の相関について検討した結果を本稿で示す. 
(英) Quality control in current software development, sets the index value in the defect density in order to bad software quality is good, is generally able to provide the upper and lower control limits of the index value (control range). Index value and the control limits range for calculating the development scale / number bugs past software, it is necessary to apply the high similarity of the target software development software. Therefore, the authors in a plurality of software, we compared the degree of similarity calculated from the Euclidean distance for the bug density properties (U management view) and development time, etc.. In addition, the results of examining the similarity correlated with the calculated defect density characteristics shown in this paper.
キーワード (和) ソフトウェア開発品質 / バグ密度 / 類似性 / / / / /  
(英) Software development quality / Bug density properties / Similarities / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 115, no. 159, NS2015-65, pp. 165-168, 2015年7月.
資料番号 NS2015-65 
発行日 2015-07-23 (NS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード NS2015-65

研究会情報
研究会 RCC ASN RCS NS SR  
開催期間 2015-07-29 - 2015-07-31 
開催地(和) JA長野県ビル 
開催地(英) JA Naganoken Bldg. 
テーマ(和) 無線分散ネットワーク,M2M (Machine-to-Machine),D2D (Device-to-Device),一般 
テーマ(英) Wireless Distributed Network, M2M: Machine-to-Machine, D2D (Device-to-Device),etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 NS 
会議コード 2015-07-RCC-ASN-RCS-NS-SR 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ソフトウェア開発品質におけるバグ密度特性と類似性への一考察 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A study on the bug density properties and similarities in software development quality 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ソフトウェア開発品質 / Software development quality  
キーワード(2)(和/英) バグ密度 / Bug density properties  
キーワード(3)(和/英) 類似性 / Similarities  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 小澤 孝 / Takashi Ozawa / オザワ タカシ
第1著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 徹 / Toru Takahashi / タカハシ トオル
第2著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社 (略称: NTT)
Nippon Telegraph and Telephone Corporation (略称: NTT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第3著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2015-07-31 15:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 NS 
資料番号 NS2015-65 
巻番号(vol) vol.115 
号番号(no) no.159 
ページ範囲 pp.165-168 
ページ数
発行日 2015-07-23 (NS) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会