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講演抄録/キーワード
講演名 2016-05-30 13:00
[ポスター講演]量子多重散乱効果による量子状態推定精度の向上
鈴木貴大湯浅一哉早大
抄録 (和) 量子干渉効果を利用することによって量子状態推定の精度を向上できることを示す. 推定対象のスピンにプローブスピンを散乱させる1 次元散乱実験を行って得られる散乱データを通じて対象スピンの量子状態を推定する.この際, 推定対象のスピンの脇に補助壁を立てると, プローブスピンは対象スピンと補助壁との間で多重散乱される.この多重散乱によって生じる量子干渉効果によって対象スピンの量子状態の推定精度を向上できることを示す. 
(英) We show that the precision of quantum state tomography can be enhanced by quantum interference effects. We try to reconstruct the quantum state of a spin through the scattering data acquired by scattering a probe spin by the target spin along a 1D line. We put an auxiliary potential near the target spin to provoke multiple scattering of the probe spin between the target and the auxiliary potential. We show that the quantum superposition
induced by the multiple scattering can enhance the precision of the state tomography of the target spin.
キーワード (和) 量子状態推定 / 量子Cramer-Rao不等式 / 量子Fisher情報量 / 量子干渉 / 量子多重散乱 / / /  
(英) quantum state tomography / quantum Cramer-Rao inequality / quantum Fisher information / quantum interference / quantum multiple scattering / / /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN  
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研究会情報
研究会 QIT  
開催期間 2016-05-30 - 2016-05-31 
開催地(和) 高知工科大学永国寺キャンパス 
開催地(英) Kochi University of Technology Eikokuji campus 
テーマ(和) 量子情報, 一般 
テーマ(英) Quantum Information 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 QIT 
会議コード 2016-05-QIT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 量子多重散乱効果による量子状態推定精度の向上 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Quantum State Tomography Enhanced by Quantum Multiple Scattering 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 量子状態推定 / quantum state tomography  
キーワード(2)(和/英) 量子Cramer-Rao不等式 / quantum Cramer-Rao inequality  
キーワード(3)(和/英) 量子Fisher情報量 / quantum Fisher information  
キーワード(4)(和/英) 量子干渉 / quantum interference  
キーワード(5)(和/英) 量子多重散乱 / quantum multiple scattering  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 貴大 / Takahiro Suzuki / スズキ タカヒロ
第1著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 湯浅 一哉 / Kazuya Yuasa /
第2著者 所属(和/英) 早稲田大学 (略称: 早大)
Waseda University (略称: Waseda Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2016-05-30 13:00:00 
発表時間 120分 
申込先研究会 QIT 
資料番号  
巻番号(vol) vol. 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


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