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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2019-01-25 11:00 ［ポスター講演］透過型エリプソメトリーによるフレクソエレクトリック係数測定の改善 ○大西 仰・木村宗弘（長岡技科大）  EID2018-18 エレソ技報アーカイブへのリンク：EID2018-18 |
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| 抄録 | （和） | ネマチック液晶の配向に広がりや曲げの歪みが与えられると生じる分極効果をフレクソエレクトリック効果と呼ぶ。これまでにいくつかフレクソエレクトリック係数の測定手法が提案されたが、同じ液晶でも測定手法の違いにより値も符号も異なっていることが問題だった。本研究では以下の2つの工夫により、フレクソエレクトリック係数の和$e_p$=$e_11$+$e_33$および差$e_n$=$e_11$-$e_33$を従来よりも確度高く評価出来る手法を提案する、すなわち ①直流電界をセル厚方向(縦電界)若しくは基板面内方向(横電界)へと印加して生じた配向変形による位相差の変化を測定する ②1つのセル内にホモジニアスおよびハイブリッド配向領域を持つ液晶セルを用いる。$e_p$に関しては多重干渉および多重反射の影響を抑制することができるSOITE法を用い、$e_n$に関しては垂直入射における位相差の印加電界依存性を測定した。理論計算と測定値の比較により値と符号の決定が可能であることを示した。 |
| （英） | In nematic liquid crystal (NLC), the electrical polarization effect which is called flexoelectricity occurs under splay or bend distortion. Up to today, several kinds of measurement methods has been reported. Even when the subject NLC was the same, however, the obtained flexoelectric coefficients and sign was different. In this study, monochromatic ellipsometry was applied to measure the flexoelectric coefficient. The new measurement procedure is for the summation of flexoelectric coefficients under splay ($e_11$) and bend ($e_33$) deformation, i.e. $e_p$ (=$e_11$+$e_33$) and difference $e_n$ (=$e_11$-$e_33$). The optical phase difference $Delta$ through hybrid aligned NLC cell with alignment deformation caused by DC electric field is measured. The NLC cell used possesses planar and hybrid alignment regions. As for estimating $e_p$, the SOITE method which is insensitive to multiple interference and multiple reflection was applied, and for $e_n$, the dependence of the phase difference on the applied electric field at normal incidence was evaluated. It was demonstrated that the cell thickness and the flexoelectric coefficients $e_p$ and $e_n$ can be determined by numerical fitting procedure. | |
| キーワード | （和） | ネマチック液晶 / フレクソエレクトリック効果 / エリプソメトリー / / / / / |
| （英） | nematic liquid crystal / flexoelectric effect / ellipsometry / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 118, no. 422, EID2018-18, pp. 117-120, 2019年1月. | |
| 資料番号 | EID2018-18 | |
| 発行日 | 2019-01-17 (EID) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EID2018-18 エレソ技報アーカイブへのリンク：EID2018-18 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EID ITE-IDY IEIJ-SSL SID-JC IEE-EDD |
| 開催期間 | 2019-01-24 - 2019-01-25 |
| 開催地（和） | 鹿児島大学 稲盛会館 |
| 開催地（英） | Kagoshima University |
| テーマ（和） | 発光型／非発光型ディスプレイ合同研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EID |
| 会議コード | 2019-01-EID-IDY-SSL-JC-EDD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 透過型エリプソメトリーによるフレクソエレクトリック係数測定の改善 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Improved Flexoelectric Coefficient Measurement by Means of Transmission Ellipsometry |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ネマチック液晶 / nematic liquid crystal |
| キーワード(2)（和/英） | フレクソエレクトリック効果 / flexoelectric effect |
| キーワード(3)（和/英） | エリプソメトリー / ellipsometry |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大西 仰 / Takashi Onishi / オオニシ タカシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： NUT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 木村 宗弘 / Munehiro Kimura / キムラ ムネヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学 (略称： 長岡技科大) Nagaoka University of Technology (略称： NUT) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2019-01-25 11:00:00 |
| 発表時間 | 5分 |
| 申込先研究会 | EID |
| 資料番号 | EID2018-18 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | no.422 |
| ページ範囲 | pp.117-120 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2019-01-17 (EID) |
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