| 研究会情報 |
| 研究会 |
EMCJ EMD WPT PEM |
| 開催期間 |
2019-07-19 - 2019-07-19 |
| 開催地（和） |
機械振興会館 |
| 開催地（英） |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） |
実装，EMC一般 |
| テーマ（英） |
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| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
PEM |
| 会議コード |
2019-07-EMCJ-EMD-WPT-PEM |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
光変調散乱技術を用いた高周波電界センサの開発とEMCスキャナへの応用 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
Development of High Frequency Electric Field Sensor with Optically Modulated Scattering Technique and its Application to EMC Noise Scanner |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
電界計測 / electric field measurement |
| キーワード(2)（和/英） |
変調散乱 / modulated scattering |
| キーワード(3)（和/英） |
半導体散乱体 / semiconductor scatterer |
| キーワード(4)（和/英） |
光変調 / microwave field |
| キーワード(5)（和/英） |
電磁環境両立性 / EMC scanner |
| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
黒澤 孝裕 / Takahiro Kurosawa / クロサワ タカヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） |
秋田県産業技術センター (略称： 秋田県産技センター)
AKITA Industrial Technology Center (略称： AITC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
駒木根 隆士 / Takashi Komakine / コマキネ タカシ |
| 第2著者 所属（和/英） |
秋田工業高等専門学校 (略称： 秋田高専)
National Institute of Technology, Akita College (略称： Akita NCT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第3著者 所属（和/英） |
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| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第11著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第12著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第13著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第14著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第15著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第16著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第17著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第18著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第19著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第20著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2019-07-19 11:25:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
PEM |
| 資料番号 |
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| 巻番号（vol） |
vol.119 |
| 号番号（no） |
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| ページ範囲 |
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| ページ数 |
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| 発行日 |
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