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講演抄録／キーワード
講演名 2019-08-08 13:55
製造ばらつきを考慮したCMOSテラヘルツイメージセンサ向け画素利得ばらつき補償機構
○池上高広・平田脩馬・澤口浩太朗・永安佑次・金澤悠里・池辺将之（北大）   エレソ技報アーカイブはこちら
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文献情報 信学技報
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研究会情報
研究会 SDM ICD ITE-IST  
開催期間 2019-08-07 - 2019-08-09 
開催地（和） 北海道大学 情報科学院 3F A31 
開催地（英） Hokkaido Univ., Graduate School /Faculty of Information Science and 
テーマ（和） アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 
テーマ（英） Analog, Mixed Analog and Digital, RF, and Sensor Interface, Low Voltage/Low Power Techniques, Novel Devices/Circuits, and the Applications 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ITE-IST 
会議コード 2019-08-SDM-ICD-IST 
本文の言語 日本語 
タイトル（和） 製造ばらつきを考慮したCMOSテラヘルツイメージセンサ向け画素利得ばらつき補償機構 
サブタイトル（和）  
タイトル（英） Gain calibration technique for CMOS terahertz image sensor pixels to compensate the product variation 
サブタイトル（英）  
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第1著者 氏名（和/英/ヨミ） 池上 高広 / Takahiro Ikegami / イケガミ タカヒロ
第1著者 所属（和/英） 北海道大学 (略称： 北大)
Hokkaido University (略称： Hokkaido Univ.)
第2著者 氏名（和/英/ヨミ） 平田 脩馬 / Yuma Hirata / ヒラタ ユウマ
第2著者 所属（和/英） 北海道大学 (略称： 北大)
Hokkaido University (略称： Hokkaido Univ.)
第3著者 氏名（和/英/ヨミ） 澤口 浩太朗 / Kotaro Sawaguchi / サワグチ コウタロウ
第3著者 所属（和/英） 北海道大学 (略称： 北大)
Hokkaido University (略称： Hokkaido Univ.)
第4著者 氏名（和/英/ヨミ） 永安 佑次 / Yuji Nagayasu / ナガヤス ユウジ
第4著者 所属（和/英） 北海道大学 (略称： 北大)
Hokkaido University (略称： Hokkaido Univ.)
第5著者 氏名（和/英/ヨミ） 金澤 悠里 / Yuri Kanazawa / カナザワ ユウリ
第5著者 所属（和/英） 北海道大学 (略称： 北大)
Hokkaido University (略称： Hokkaido Univ.)
第6著者 氏名（和/英/ヨミ） 池辺 将之 / Masayuki Ikebe / イケベ マサユキ
第6著者 所属（和/英） 北海道大学 (略称： 北大)
Hokkaido University (略称： Hokkaido Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2019-08-08 13:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ITE-IST 
資料番号  
巻番号（vol） vol.119 
号番号（no）  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  

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