講演抄録/キーワード |
講演名 |
2019-11-15 15:50
サイドチャネル波形の計測分解能が秘密鍵の取得性に与える影響の測定 ○内海航平(東北大)・林 優一(奈良先端大)・水木敬明・曽根秀昭(東北大) EMCJ2019-73 |
抄録 |
(和) |
暗号モジュールの動作時に発生する物理的な現象を利用して秘密鍵を解析するサイドチャネル攻撃が脅威となっている. 暗号処理時に発生する電圧に対する情報漏えい評価の際,様々な誤差によって評価に要する時間が増大する.測定した信号には計測分解能による量子化誤差が生じ、秘密鍵の取得性に影響を与える. これに対し本稿では,測定機器の計測分解能の操作で量子化誤差を変化させ,その影響を解析した. 具体的には,暗号モジュールで発生する電圧をオシロスコープの計測分解能を操作して測定し,得られた波形に相関電力解析を行った. 実験の結果,計測分解能の低下によって秘密鍵の取得が容易となる場合があることを示した. |
(英) |
A side-channel attack is known as a serious threat which can obtain a secret key by analyzing physical information leakage from cryptographic devices. When we analyze side-channel information to retrieve the key, measurement errors can affect the analysis. The authors analyze an effect of quantization errors on retrieving the key. We performed correlation power analysis(CPA), tuning the resolution of the measurement instrument. Through the experiments, The authors showed that it sometimes become easy to retrieve the key for the reduced resolution. |
キーワード |
(和) |
サイドチャネル解析 / 暗号モジュール / 量子化誤差 / 計測分解能 / / / / |
(英) |
Side-channel analysis / Cryptographic module / Quantization error / Resolution / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 119, no. 293, EMCJ2019-73, pp. 13-16, 2019年11月. |
資料番号 |
EMCJ2019-73 |
発行日 |
2019-11-08 (EMCJ) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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EMCJ2019-73 |