講演抄録/キーワード |
講演名 |
2020-02-27 11:45
3D-ICにおける電源TSVの抵抗性オープン故障の検出手法 ○蜂屋孝太郎(帝京平成大)・黒川 敦(弘前大) CAS2019-104 CS2019-104 |
抄録 |
(和) |
電源マイクロ・バンプ間の抵抗を測定することにより電源TSVの抵抗性オープン故障を検出する方法を提案する.
従来の電源TSVのテスト手法では完全オープン故障しか考慮されていなかったが,これを修正して抵抗性オープン故障も扱えるようにする.
TSVの抵抗が増加した時にマイクロ・バンプ間の抵抗も単調に増加する特性を利用し,
故障とみなすオープン抵抗の最小値$R_{¥it min}$を定義して,統計的故障シミュレーションを行う際に故障したTSVの抵抗として$R_{¥it min}$を用いる.
2つのダイから構成される3D-ICの例を用いたシミュレーション結果では,
提案手法によって電源TSVの抵抗性オープンを検出できることができた.
ただし$R_{¥it min}$を小さくするにしたがい故障検出率は低下する. |
(英) |
A method is proposed which detects resistive-open defects of power TSVs in PDNs by measuring resistance between power micro-bumps.
Utilizing the monotonically increasing property of the measured resistance between power micro-bumps when the resistance of TSV under test increases,
the method defines the minimum defective resistance $R_{¥it min}$ of TSVs and uses it as the resistance of defective TSV in statistical fault simulations.
Simulation results of a 3D-IC example with two dies show that the proposed method can detect resistive opens although defect coverage is decreased when $R_{¥it min}$ is decreased. |
キーワード |
(和) |
3D-IC / TSV / 電源分配網のテスト / 抵抗性オープン故障 / / / / |
(英) |
3D-IC / TSV / testing power distribution network / resistive open defect / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 119, no. 423, CAS2019-104, pp. 37-41, 2020年2月. |
資料番号 |
CAS2019-104 |
発行日 |
2020-02-20 (CAS, CS) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
CAS2019-104 CS2019-104 |
研究会情報 |
研究会 |
CS CAS |
開催期間 |
2020-02-27 - 2020-02-28 |
開催地(和) |
崇城大学 |
開催地(英) |
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テーマ(和) |
ネットワークプロセッサ,通信のための信号処理回路,無線LAN/PAN,一般 |
テーマ(英) |
Network processor, Signal processing and circuits for communications, Wireless LAN / PAN, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
CAS |
会議コード |
2020-02-CS-CAS |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
3D-ICにおける電源TSVの抵抗性オープン故障の検出手法 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Detecting Resistive-Open Defects of Power TSVs in 3D-ICs |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
3D-IC / 3D-IC |
キーワード(2)(和/英) |
TSV / TSV |
キーワード(3)(和/英) |
電源分配網のテスト / testing power distribution network |
キーワード(4)(和/英) |
抵抗性オープン故障 / resistive open defect |
キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
蜂屋 孝太郎 / Koutaro Hachiya / ハチヤ コウタロウ |
第1著者 所属(和/英) |
帝京平成大学 (略称: 帝京平成大)
Teikyo Heisei University (略称: Teikyo Heisei Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
黒川 敦 / Atsushi Kurokawa / クロカワ アツシ |
第2著者 所属(和/英) |
弘前大学 (略称: 弘前大)
Hirosaki University (略称: Hirosaki Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2020-02-27 11:45:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
CAS |
資料番号 |
CAS2019-104, CS2019-104 |
巻番号(vol) |
vol.119 |
号番号(no) |
no.423(CAS), no.424(CS) |
ページ範囲 |
pp.37-41 |
ページ数 |
5 |
発行日 |
2020-02-20 (CAS, CS) |
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