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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2020-09-28 13:50 直線集束ビーム超音波材料解析システムによる材料均質性評価のための高速スキャン法 ○大橋雄二・横田有為・山路晃広・吉野将生・黒澤俊介・鎌田 圭・佐藤浩樹・豊田智史・花田 貴・吉川 彰（東北大）  US2020-34 |
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| 抄録 | （和） | 直線集束ビーム超音波材料解析(LFB-UMC)システムにおいて高速スキャン法を用いた新しい材料均質性評価法を提案し，その実験的検討を行なった．Ca3Ta(Ga0.75Al0.25)3Si2O14[CTGAS]単結晶試料内に存在する組成分布に起因する漏洩弾性表面波(LSAW)速度の変化を従来法のV(z)法と新規提案のV(x)法の両方法で同様に得ることに成功した．V(x)法の測定時間は，従来法のV(z)法に比べ1/56と高速に測定可能であった．測定精度の観点ではV(z)法が優れているが，材料の広い面積に渡る均質性を高速に評価するという観点ではV(x)法に大きなメリットがある． |
| （英） | We proposed and demonstrated a new method for measuring material homogeneity using fast scanning technique with the line-focus-beam ultrasonic-material-characterization (LFB-UMC) system. We could successfully obtain similar velocity profile of leaky surface acoustic wave (LSAW) for a Ca3Ta(Ga0.75Al0.25)3Si2O14[CTGAS] single crystal specimen by both of the new V(x) and the conventional V(z) methods. We have verified the new V(x) method was 56 times faster than the conventional V(z) method. Although the V(z) method is superior to the V(x) method in a viewpoint of measurement accuracy, the V(x) method has great advantage that it is possible to quickly evaluate material homogeneity over the wide area of specimen. | |
| キーワード | （和） | 直線集束ビーム超音波材料解析(LFB-UMC)システム / 漏洩弾性表面波(LSAW)速度 / V(z)曲線解析法 / 材料均質性評価 / / / / |
| （英） | Line-focus-beam ultrasonic material characterization (LFB-UMC) system / Leaky surface acoustic wave (LSAW) velocity / V(z) curve analysis / Measuring material homogeneity / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 120, no. 174, US2020-34, pp. 41-44, 2020年9月. | |
| 資料番号 | US2020-34 | |
| 発行日 | 2020-09-21 (US) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | US2020-34 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | US |
| 開催期間 | 2020-09-28 - 2020-09-28 |
| 開催地（和） | オンライン開催 |
| 開催地（英） | Online |
| テーマ（和） | 一般(共催：東北大学電気通信研究所 超音波エレクトロニクス研究会、日本超音波医学会光超音波画像研究会、レーザー学会光音響イメージング技術専門委員会) |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | US |
| 会議コード | 2020-09-US |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 直線集束ビーム超音波材料解析システムによる材料均質性評価のための高速スキャン法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fast Scanning Method for Measuring Material Homogeneity using the Line-Focus-Beam Ultrasonic-Material-Characterization System |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 直線集束ビーム超音波材料解析(LFB-UMC)システム / Line-focus-beam ultrasonic material characterization (LFB-UMC) system |
| キーワード(2)（和/英） | 漏洩弾性表面波(LSAW)速度 / Leaky surface acoustic wave (LSAW) velocity |
| キーワード(3)（和/英） | V(z)曲線解析法 / V(z) curve analysis |
| キーワード(4)（和/英） | 材料均質性評価 / Measuring material homogeneity |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大橋 雄二 / Yuji Ohashi / オオハシ ユウジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 横田 有為 / Yuui Yokota / ヨコタ ユウイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山路 晃広 / Akihiro Yamaji / ヤマジ アキヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉野 将生 / Masao Yoshino / ヨシノ マサオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 黒澤 俊介 / Shunnsuke Kurosawa / クロサワ シュンスケ |
| 第5著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鎌田 圭 / Kei Kamada / カマダ ケイ |
| 第6著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 浩樹 / Hiroki Sato / サトウ ヒロキ |
| 第7著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 豊田 智史 / Satoshi Toyoda / トヨダ サトシ |
| 第8著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | 花田 貴 / Takashi Hanada / ハナダ タカシ |
| 第9著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
| 第10著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉川 彰 / Akira Yoshikawa / ヨシカワ アキラ |
| 第10著者 所属（和/英） | 東北大学 (略称： 東北大) Tohoku University (略称： Tohoku Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2020-09-28 13:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | US |
| 資料番号 | US2020-34 |
| 巻番号（vol） | vol.120 |
| 号番号（no） | no.174 |
| ページ範囲 | pp.41-44 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2020-09-21 (US) |
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