講演抄録/キーワード |
講演名 |
2021-12-01 14:20
デュアルモードSAR ADCを用いた電源ノイズ解析攻撃の検知手法の考案 ○弘原海拓也・三木拓司・永田 真(神戸大) VLD2021-30 ICD2021-40 DC2021-36 RECONF2021-38 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2021-40 |
抄録 |
(和) |
IoT機器が悪意のある攻撃者の標的として脅威に晒されている。そこで、電源ラインに対する意図的な機器挿入に起因するインピーダンスの変化をオンチップモニタ回路(OCM)で取得した電源ノイズ波形から読み取ることで異常の検知及び診断を可能とするフローを提案する。65nm CMOSプロセスでテストチップを作成し、電源ラインに挿入した微小な抵抗および容量による電源ノイズ波形の変動を定量的に示し、実際の攻撃としてあり得る電圧プローブの挿入を検知出来ることを示した。 |
(英) |
Distributed IoT devices are exposed to unexpected interferences by physical accesses by malicious attackers. An on-chip noise monitor using a dual-mode ADC is developed to detect the insertion of off-chip components as malicious attempts of power noise measurement attacks. Fabricated in 65 nm CMOS, the on-chip noise monitor is examined for the detectability of series resistor, parallel capacitors and voltage probe that are intentionally inserted on power lines. |
キーワード |
(和) |
電源ノイズ / サイドチャネル攻撃 / 電力解析攻撃 / 電磁界ノイズ攻撃 / ディジタル集積回路 / オンチップモニタリング / / |
(英) |
power supply noise / side channel attack / power noise attack / electromagnetic noise attack / digital integrated circuit / on-chip noise monitor / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 121, no. 278, ICD2021-40, pp. 78-82, 2021年12月. |
資料番号 |
ICD2021-40 |
発行日 |
2021-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
VLD2021-30 ICD2021-40 DC2021-36 RECONF2021-38 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2021-40 |
研究会情報 |
研究会 |
VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM |
開催期間 |
2021-12-01 - 2021-12-02 |
開催地(和) |
オンライン開催 |
開催地(英) |
Online |
テーマ(和) |
デザインガイア2021 -VLSI設計の新しい大地- |
テーマ(英) |
Design Gaia 2021 -New Field of VLSI Design- |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
ICD |
会議コード |
2021-12-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
デュアルモードSAR ADCを用いた電源ノイズ解析攻撃の検知手法の考案 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
A Dual-mode SAR ADC to Detect Power Analysis Attack |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
電源ノイズ / power supply noise |
キーワード(2)(和/英) |
サイドチャネル攻撃 / side channel attack |
キーワード(3)(和/英) |
電力解析攻撃 / power noise attack |
キーワード(4)(和/英) |
電磁界ノイズ攻撃 / electromagnetic noise attack |
キーワード(5)(和/英) |
ディジタル集積回路 / digital integrated circuit |
キーワード(6)(和/英) |
オンチップモニタリング / on-chip noise monitor |
キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
弘原海 拓也 / Takuya Wadatsumi / ワダツミ タクヤ |
第1著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
三木 拓司 / Takuji Miki / ミキ タクジ |
第2著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
第3著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2021-12-01 14:20:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
ICD |
資料番号 |
VLD2021-30, ICD2021-40, DC2021-36, RECONF2021-38 |
巻番号(vol) |
vol.121 |
号番号(no) |
no.277(VLD), no.278(ICD), no.279(DC), no.280(RECONF) |
ページ範囲 |
pp.78-82 |
ページ数 |
5 |
発行日 |
2021-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) |