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講演抄録/キーワード
講演名 2022-11-18 16:20
トランジスタの出力寄生容量のLC/CL整合回路に与える影響について
田中 聡藤島 実広島大CAS2022-60 MSS2022-43
抄録 (和) 高周波増幅器に用いる整合回路としてLC/CL整合回路が広く知られている.LC/CL整合回路は整合条件,通過特性,高調波抑圧,あるいは素子値の大きさなどの設計要件に応じて使い分けを行う.ここでは整合条件(VSWR<1.2を仮定)と通過特性(S21>-0.3 dBを仮定)に着目し,抵抗終端条件で両者の比帯域比較を行った.その結果,整合条件の比帯域に関しては両者の差異はなく,通過特性の比帯域に関してはCL整合回路がLC整合回路に対して優っていることが分かった.次にトランジスタの出力寄生容量を勘案した終端条件で,整合条件の比帯域に関して比較を行った.その結果,整合条件の比帯域でもCL整合回路が若干優っていることがわかった.原因を調べるため,寄生容量を含むπ型回路を2つのL型回路に分割し解析を行ったところ,寄生容量を含むCL整合回路はCL回路と-CC回路に分割出来,互いのインピーダンス変化が設計周波数近傍で逆特性となり,帯域の劣化を低減していることがわかった.ただし実部も変化しており,複素共役条件を満たしておらず,効果が限定的であることもわかった.結果として整合条件と通過帯域の比帯域についてはCL整合回路が優っていることが分かった. 
(英) LC/CL matching circuits are widely known as matching circuits for high-frequency amplifiers. LC/CL matching circuits are used properly according to design requirements such as matching conditions, pass characteristics, harmonic suppression, and element values. First, we compare the matching conditions (assuming VSWR<1.2) and pass characteristics (assuming S21>-0.3 dB) under the resistor termination condition. As a result, it was found that there is no difference between the two in terms of FBW (fractional bandwidth) of the matching condition, and that the CL matching circuit is superior to the LC matching circuit in terms of the FBW of the pass characteristics. Next, we compared the FBW of the matching condition under the termination condition considering the output parasitic capacitance of the transistor. As a result, it was found that the CL matching circuit is slightly superior even in the FBW of the matching condition. In order to investigate the cause, we divided the π-type circuit containing the parasitic capacitance into two L-type circuits and analyzed them. It is found that the characteristics are reversed near the frequency, and the deterioration of the band is reduced. However, it was found that the real part changed, and the complex conjugation condition was not satisfied, and the effect was limited. As a result, it was found that the CL matching circuit is superior in terms of the matching condition and the ratio of the passband.
キーワード (和) LC整合回路 / CL整合回路 / 比帯域 / 寄生容量 / 通過特性 / / /  
(英) LC Matching Circuit / CL Matching Circuit / Fractional Bandwidth / Parasitic Capacitor / Passing Characteristics / / /  
文献情報 信学技報, vol. 122, no. 253, CAS2022-60, pp. 111-116, 2022年11月.
資料番号 CAS2022-60 
発行日 2022-11-10 (CAS, MSS) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CAS2022-60 MSS2022-43

研究会情報
研究会 CAS MSS IPSJ-AL  
開催期間 2022-11-17 - 2022-11-18 
開催地(和) Kochi Startup BASE 
開催地(英)  
テーマ(和) システムのモデリングと制御・検証・最適化の手法,機械学習的アプローチ及び一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CAS 
会議コード 2022-11-CAS-MSS-AL 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) トランジスタの出力寄生容量のLC/CL整合回路に与える影響について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Effect of output parasitic capacitance of transistor on LC/CL matching circuit 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) LC整合回路 / LC Matching Circuit  
キーワード(2)(和/英) CL整合回路 / CL Matching Circuit  
キーワード(3)(和/英) 比帯域 / Fractional Bandwidth  
キーワード(4)(和/英) 寄生容量 / Parasitic Capacitor  
キーワード(5)(和/英) 通過特性 / Passing Characteristics  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 田中 聡 / Satoshi Tanaka / タナカ サトシ
第1著者 所属(和/英) 広島大学 (略称: 広島大)
Hiroshima University (略称: Hiroshima Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤島 実 / Minoru Fujishima / フジシマ ミノル
第2著者 所属(和/英) 広島大学 (略称: 広島大)
Hiroshima University (略称: Hiroshima Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2022-11-18 16:20:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 CAS 
資料番号 CAS2022-60, MSS2022-43 
巻番号(vol) vol.122 
号番号(no) no.253(CAS), no.254(MSS) 
ページ範囲 pp.111-116 
ページ数
発行日 2022-11-10 (CAS, MSS) 


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