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講演抄録/キーワード
講演名 2023-11-15 13:10
アルファ線と重イオンによるソフトエラー率の周波数依存性の測定
杉崎春斗中島隆一杉谷昇太郎古田 潤小林和淑京都工繊大VLD2023-33 ICD2023-41 DC2023-40 RECONF2023-36
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 123, no. 259, ICD2023-41, pp. 19-24, 2023年11月.
資料番号 ICD2023-41 
発行日 2023-11-08 (VLD, ICD, DC, RECONF) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2023-33 ICD2023-41 DC2023-40 RECONF2023-36

研究会情報
研究会 VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM  
開催期間 2023-11-15 - 2023-11-17 
開催地(和) くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール 
開催地(英) Civic Auditorium Sears Home Yume Hall 
テーマ(和) デザインガイア2023 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2023 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2023-11-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) アルファ線と重イオンによるソフトエラー率の周波数依存性の測定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Frequency Dependence of Soft Error Rates Induced by Alpha-Particle and Heavy Ion 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 杉崎 春斗 / Haruto Sugisaki / スギサキ ハルト
第1著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 中島 隆一 / Ryuichi Nakajima / ナカジマ リュウイチ
第2著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 杉谷 昇太郎 / Shotaro Sugitani / スギタニ ショウタロウ
第3著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 古田 潤 / Jun Furuta / フルタ ジュン
第4著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ
第5著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2023-11-15 13:10:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 VLD2023-33, ICD2023-41, DC2023-40, RECONF2023-36 
巻番号(vol) vol.123 
号番号(no) no.258(VLD), no.259(ICD), no.260(DC), no.261(RECONF) 
ページ範囲 pp.19-24 
ページ数
発行日 2023-11-08 (VLD, ICD, DC, RECONF) 


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