2月26日(水) 午前 機械学習 座長: 王 森岭(愛媛大) 10:00 - 11:35 |
(1) |
10:00-10:25 |
機械学習を用いたデジタル温度電圧センサの精度向上について |
○権藤昌之・三宅庸資・梶原誠司(九工大) |
(2) |
10:25-10:50 |
畳み込みニューラルネットワークを活用したLSIテスト不良予測 |
○岡 龍之介・大竹哲史(大分大)・熊木光一(ルネサス エレクトロニクス) |
(3) |
10:50-11:15 |
機械学習の異常検知による半断線故障判別法における温度依存性の検討 |
○中西遼太郎・四柳浩之・橋爪正樹(徳島大)・樋上喜信・高橋 寛(愛媛大) |
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11:15-11:35 |
休憩 ( 20分 ) |
2月26日(水) 午前 テスト容易化設計・セキュリティ 座長: 四柳 浩之(徳島大) 11:35 - 14:10 |
(4) |
11:35-12:00 |
マルチサイクルテストにおける故障検出強化のためのテストポイント挿入法 |
○青野智己・中岡典弘・周 細紅・王 森レイ・樋上喜信・高橋 寛(愛媛大)・岩田浩幸・前田洋一・松嶋 潤(ルネサス エレクトロニクス) |
(5) |
12:00-12:25 |
n入力マルチプレクサのテスト不能故障数削減のためのコントローラ拡大法 |
○竹内勇希・細川利典・山崎紘史(日大)・吉村正義(京都産大) |
(6) |
12:25-12:50 |
アンロールドアーキテクチャを利用したグリッチPUFとその評価 |
○野崎佑典・吉川雅弥(名城大) |
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12:50-14:10 |
休憩 ( 80分 ) |
2月26日(水) 午後 低消費電力テスト 座長: 大竹 哲史(大分大) 14:10 - 15:45 |
(7) |
14:10-14:35 |
パーシャルMaxSATを用いた低消費電力指向ドントケア判定・割当て同時最適化法 |
○三澤健一郎・細川利典・山崎紘史(日大)・吉村正義(京都産大)・新井雅之(日大) |
(8) |
14:35-15:00 |
メモリ搭載LSIに対するロジック部の消費電力解析に関する研究 |
○児玉優也・宮瀬紘平・高藤大輝・温 暁青・梶原誠司(九工大) |
(9) |
15:00-15:25 |
LSIの高消費電力エリアに対する信号値遷移制御率向上に関する研究 |
○史 傑・宮瀬紘平・温 暁青・梶原誠司(九工大) |
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15:25-15:45 |
休憩 ( 20分 ) |
2月26日(水) 午後 FPGA・ソフトエラー 15:45 - 17:00 |
(10) |
15:45-16:10 |
FPGAに実装したリング発振器の長時間動作時の周波数変化 |
○堤 信吾・三浦幸也(首都大東京) |
(11) |
16:10-16:35 |
網羅的パス解析による高精度な再利用FPGA検出手法 |
○新谷道広・アフメド フォイサル・井上美智子(奈良先端大) |
(12) |
16:35-17:00 |
耐電源ノイズ用ラッチのソフトエラー耐性 |
○木下湧矢・三浦幸也(首都大東京) |