2月28日(火) 午前 故障診断・故障解析
座長: 吉村正義（京都産業大学）
11:00 - 11:50 |
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11:00-11:25 |
レイアウト起因LSI欠陥検出のためのFSGANを用いたデータ拡張に関する検討 |
○杉岡拓海・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） |
| (2) |
11:25-11:50 |
故障診断分解能向上のための複数故障ペア識別パターン生成法 |
○千田祐弥・細川利典（日大）・山崎浩二（明大） |
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11:50-13:00 |
休憩 （ 70分 ） |
2月28日(火) 午後 ソフトウェアテスト・近似回路設計
座長: 宮瀬紘平（九州工業大学）
13:00 - 14:15 |
| (3) |
13:00-13:25 |
信頼度計算プログラムに対するメタモルフィックテスティングの適用 |
○浅地泰斗・土屋達弘（阪大） |
| (4) |
13:25-13:50 |
A Clear and Understandable Notation for Expressing T-Way Test Sequence Generation Constraints |
○Lele Jiang・Tatsuhiro Tsuchiya（Osaka Univ.） |
| (5) |
13:50-14:15 |
近似乗算器における誤り補正と信頼度の関係に関する解析 |
○髙妻珠希・王 麒霖・市原英行・井上智生（広島市大） |
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14:15-14:25 |
休憩 （ 10分 ） |
2月28日(火) 午後 テスト容易化設計
座長: 小松 聡（東京電機大学）
14:25 - 15:40 |
| (6) |
14:25-14:50 |
グラフニューラルネットワークと深層強化学習による論理回路のテストポイント選択法 |
○魏 少奇・塩谷晃平・王 森レイ・甲斐 博・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大） |
| (7) |
14:50-15:15 |
2パターン並列テストのためのコントローラの制御信号のドントケア割当て法 |
徐 浩豊・○細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）・新井雅之（日大） |
| (8) |
15:15-15:40 |
組込み自己テストのための複数ランダムパータンレジスタント遷移故障のシード生成法 |
徐 雁レイ・三浦 怜・○細川利典（日大）・吉村正義（京都産大） |
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15:40-15:50 |
休憩 （ 10分 ） |
2月28日(火) 午後 LSIテスト・回路設計
座長: 王 森岭（愛媛大学）
15:50 - 17:05 |
| (9) |
15:50-16:15 |
入力電圧範囲を制御可能な確率的フラッシュADC |
○坂口 平・小松 聡（東京電機大） |
| (10) |
16:15-16:40 |
A Novel High Performance Scan-Test-Aware Hardened Latch with Improved Soft Error Tolerability |
○Ruijun Ma（AUST）・Stefan Holst・Xiaoqing Wen（KIT）・Hui Xu（AUST）・Aibin Yan（AU） |
| (11) |
16:40-17:05 |
論理回路内のホットスポット特定のための効率的な 信号値遷移確率計算に関する研究 |
○宇都宮大喜・宮瀬紘平・星野 龍（九工大）・ルー シュエクン（国立台湾科技大）・温 暁青・梶原誠司（九工大） |
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