1月27日(木) 午後 13:00 - 15:00 |
(1) |
13:00-13:30 |
LSI断線箇所診断手法 |
○小宮泰麿・菊地修司(日立)・嶋瀬 朗・向川一也(ルネサステクノロジ) |
(2) |
13:30-14:00 |
90nmデバイスのLVP測定容易性評価とLVP測定用素子の開発 |
○野中淳平・和田慎一(NECエレクトロニクス) |
(3) |
14:00-14:30 |
SILプレートによる高分解能故障解析 |
○吉田岳司・小山 徹・小守純子・益子洋治(ルネサステクノロジ) |
(4) |
14:30-15:00 |
作りこみ欠陥を有する完成チップの走査レーザSQUID顕微鏡による観測 |
○酒井哲哉・二川 清(NECエレクトロニクス) |
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15:00-15:15 |
休憩 ( 15分 ) |
1月27日(木) 午後 15:15 - 17:15 |
(5) |
15:15-16:15 |
[特別招待講演]ULSIデバイス解析評価技術の現状と今後 ~ LSIの将来の生命線を握る解析技術 ~ |
○益子洋治(ルネサステクノロジ) |
(6) |
16:15-16:45 |
レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡によるMOSトランジスタの観察 |
○山下将嗣・川瀬晃道・大谷知行(理研)・二川 清(NECエレクトロニクス)・斗内政吉(阪大) |
(7) |
16:45-17:15 |
Sn-Ag-X 鉛フリーはんだの高信頼性化への検討 |
○雨海正純(日本テキサス・インスツルメンツ)・大西 司・田島 武(千住金属) |
1月28日(金) 午前 09:00 - 10:30 |
(8) |
09:00-09:30 |
サーバ・ルータ向け10Gbps伝送プロトタイプ |
柳生正義・山下寛樹・結城文夫・○川下達也・藤村康弘・高田芳文(日立) |
(9) |
09:30-10:00 |
高密度、多ピンパッケージにおける高信頼性確認手法と事例紹介 |
○橋本修平・川口泰雅・羽二生 稔・松永俊博・松尾光永・川谷直子・樋口裕久・高橋貴彦(日立) |
(10) |
10:00-10:30 |
高速ランダムアクセス混載 DRAM におけるパッケージ後の自動救済技術 |
○中山 篤・行川敏正・伊藤 洋・和田 修・藤井秀壮(東芝) |
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10:30-10:45 |
休憩 ( 15分 ) |
1月28日(金) 午前 10:45 - 12:15 |
(11) |
10:45-11:15 |
アナログ回路の故障診断手法の検討 |
○久慈憲夫(八戸高専) |
(12) |
11:15-11:45 |
RTL故障診断技術の実用化に向けた開発 |
○二階堂正人・船津幸永(NECエレクトロニクス) |
(13) |
11:45-12:15 |
故障診断のための観測性の定量化について |
○豊田直哉・梶原誠司・温 暁青(九工大)・真田 克(NECエレクトロニクス) |
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12:15-13:30 |
昼食 ( 75分 ) |
1月28日(金) 午後 13:30 - 15:30 |
(14) |
13:30-14:00 |
テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について |
○新谷道広・越智正邦・市原英行・井上智生(広島市大) |
(15) |
14:00-14:30 |
順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について |
○樋上喜信(愛媛大)・梶原誠司(九工大)・小林真也・高松雄三(愛媛大) |
(16) |
14:30-15:00 |
機能テストフェイル情報とCADレイアウト抽出ネットリストを用いたLSI故障診断手法 |
○三浦克介・中前幸治・藤岡 弘(阪大) |
(17) |
15:00-15:30 |
スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法 |
○新井雅之・黒川晴申・市野憲一・福本 聡・岩崎一彦(都立大) |
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15:30-15:45 |
休憩 ( 15分 ) |
1月28日(金) 午後 15:45 - 17:15 |
(18) |
15:45-16:15 |
Learning-Based Improvement in Fault Tolerance of Hopfield Associative Memories |
○Naotake Kamiura・Teijiro Isokawa・Nobuyuki Matsui(Univ. of Hyogo) |
(19) |
16:15-16:45 |
65nm時代以降のSoCデバイステスト技術 ~ Low-k/Cu配線技術対応の試験および解析手法 ~ |
○山崎 眞・古川靖夫(アドバンテスト) |
(20) |
16:45-17:15 |
経路追跡手法による多重故障診断の実回路への適用 |
○船津幸永・住友洋志・重田一樹・石山敏夫(NECエレクトロニクス) |