6月19日(金) 午前 設計/テスト/検証 座長: 中尾 教伸 10:20 - 12:00 |
(1) |
10:20-10:45 |
テスト容易な並列プレフィックス加算器の設計手法 |
○鈴木秀俊・高木直史(名大) |
(2) |
10:45-11:10 |
SoC向けMBISTにおける歩留りと面積のトレードオフに関する一考察 |
○新井雅之・遠藤辰朗・岩崎一彦(首都大東京)・中尾教伸・鈴木 巌(ルネサステクノロジ) |
(3) |
11:10-11:35 |
閾値テストのための5値論理に基づくテスト生成アルゴリズムに関する考察 |
○出水伸和・吉川祐樹・市原英行・井上智生(広島市大) |
(4) |
11:35-12:00 |
縮退故障用ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法 |
樋上喜信・○黒瀬洋介・大野智志・山岡弘典・高橋 寛(愛媛大)・清水良浩・相京 隆(半導体理工学研究センター)・高松雄三(愛媛大) |
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12:00-13:30 |
休憩 ( 90分 ) |
6月19日(金) 午後 招待講演 座長: 井上 智生 13:30 - 14:30 |
(5) |
13:30-14:30 |
[招待講演]High-level Design for Test Tools & Industrial Design Flows |
○Chouki Aktouf(DeFacTo) |
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14:30-14:45 |
休憩 ( 15分 ) |
6月19日(金) 午後 インダストリアルセッション 座長: 浜田 周治 14:45 - 16:00 |
(6) |
14:45-15:10 |
事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト |
○埜田健治・伊藤秀昭・畠山一実・相京 隆(半導体理工学研究センター) |
(7) |
15:10-15:35 |
高機能FFによる微小遅延故障検出技術の小面積化手法 |
○野口宏一朗・野瀬浩一(NEC)・尾野年信(NECエレクトロニクス)・水野正之(NEC) |
(8) |
15:35-16:00 |
システマティック故障を検出するための故障診断技術と事例 |
○山元廣志・和田弘樹・小串 亨・中尾教伸(ルネサステクノロジ) |