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専門委員長 |
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萓野 良樹 (電通大) |
幹事 |
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上野 貴博 (日本工大) |
幹事補佐 |
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林 優一 (奈良先端大), 宮永 和明 (富士通コンポーネント) |
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専門委員長 |
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安里 彰 (富士通) |
副委員長 |
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土肥 正 (広島大) |
幹事 |
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田村 信幸 (法政大), 井上 真二 (関西大) |
幹事補佐 |
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岡村 寛之 (広島大), 横川 慎二 (電通大) |
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日時 |
2021年 2月12日(金) 13:30 - 15:45 |
議題 |
機構デバイスの信頼性、信頼性一般(共催:信頼性研究会) |
会場名 |
オンライン開催 |
他の共催 |
◆日本信頼性学会,IEEE Reliability Society Japan Chapter共催
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参加費に ついて |
この開催は「技報完全電子化」研究会です.参加費(EMD研究会, R研究会)についてはこちらをご覧ください. |
2月12日(金) 午後 オンライン開催 13:30 - 15:45 |
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13:30-13:35 |
委員長挨拶 ( 5分 ) |
(1) |
13:35-14:00 |
高信頼性トリガギャップスイッチにより大気中で発生する12路並列放電アークの写真観察 |
○相沢友勝(都立高専) |
(2) |
14:00-14:25 |
450VDC/10A回路における開離時アークの陰極輝点の移動特性とアークランナー表面の温度 |
○佐藤裕之・関川純哉(静岡大) |
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14:25-14:35 |
休憩 ( 10分 ) |
(3) |
14:35-15:00 |
ユーザーの利用調査データに基づくモバイル端末のバッテリー劣化傾向の診断 |
○浅野 実・横川慎二・石垣 陽(電通大)・冨永潤一・栗津浜一(携帯市場) |
(4) |
15:00-15:45 |
[招待講演]電子デバイスに対する信頼性物理の諸課題 ~ 物理的に解明が必要な故障メカニズム ~ |
○門田 靖(リコー) |
講演時間 |
一般講演 | 発表 20 分 + 質疑応答 5 分 |
Last modified: 2020-12-22 09:44:53
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