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機構デバイス研究会（EMD） [schedule] [select]
専門委員長 和田 真一 (TMCシステム)
副委員長 萓野 良樹 (電通大)
幹事 水上 雅人 (室蘭工大)， 鈴木 健司 (富士電機機器制御)
幹事補佐 林 優一 (奈良先端大)

信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 弓削 哲史 (防衛大)
副委員長 安里 彰 (富士通)
幹事 田村 信幸 (法政大)， 平栗 滋人 (鉄道総研)
幹事補佐 井上 真二 (関西大)， 岡村 寛之 (広島大)

日時 2019年 2月15日(金)　13:00 - 17:05
議題 機構デバイスの信頼性、信頼性一般 （共催：信頼性研究会，継電器・コンタクトテクノロジ研究会，IEEE EPS JAPAN） 
会場名 パナソニック企業年金基金 松心会館 
交通案内 http://nenkin.jpn.panasonic.com/kaikan/map/map.html
他の共催 ◆日本信頼性学会，IEEE Reliability Society Japan Chapter共催
参加費に
ついて		 この開催は「技報完全電子化」研究会です．参加費（EMD研究会）についてはこちらをご覧ください．

2月15日(金) 午後  パナソニック企業年金基金 松心会館
13:00 - 17:05
  13:00-13:05 委員長挨拶　（ 5分 ）
(1) 13:05-13:30 29th International Conference on Electrical Contacts/64th IEEE Holm Conference on Electrical Contactsの概要報告 ○澤　孝一郎・吉田　清・上野貴博（日本工大）・鈴木健司（富士電機機器制御）
(2) 13:30-13:55 500VDC/10A抵抗性回路内で磁気吹き消しされる開離時アークの形状に対する磁石の横幅の影響 ○金子裕汰・関川純哉（静岡大）
(3) 13:55-14:20 直流モータのブラシおよび整流子アーク痕の摺動面への復活現象 ○澤　孝一郎・渡辺克忠・上野貴博（日本工大）
  14:20-14:30 休憩　（ 10分 ）
(4) 14:30-14:55 同一周波数の強電界環境下における中波送信アンテナインピーダンス測定に関する一手法 ～ システムの信頼性向上に向けて ～ ○有田　渉・清水一馬・野崎和彦・内海俊人（NHK）・白窪大司・矢野史也（NHKアイテック）・金森香子・山添雅彦（NHK）
(5) 14:55-15:55 ［招待講演］MOSFETエージングモデルを用いた回路特性劣化SPICEシミュレーション ○田中浩治・雨宮真一郎・岡村　均・嶌末政憲（モーデック）
  15:55-16:05 休憩　（ 10分 ）
(6) 16:05-17:05 ［招待講演］事業継続とセキュリティインシデント封じ込めを両立させる情報システム構築 ○嶋田　創（名大）
  17:05-17:10 委員長挨拶　（ 5分 ）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分
招待講演発表 50 分 ＋ 質疑応答 10 分

問合先と今後の予定
EMD 機構デバイス研究会（EMD）   [今後の予定はこちら]
問合先 和田 真一（TMCシステム）
萓野 良樹（電気通信大学）
TEL&FAX 042-443-5233
E--mail: yc
水上 雅人（室蘭工業大学）
TEL&FAX 0143-46-5307
E--mail: m-mmmn-it
鈴木 健司（富士電機機器制御株式会社）
TEL: 048-548-1111
E--mail: -knjelectc
林 優一（奈良先端科学技術大学院大学）
TEL 0743-72-5390，FAX 0743-72-5391
E--mail: -iisist 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 岡村 寛之（広島大）
E--mail: -u 


Last modified: 2018-12-23 23:04:26


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