2月15日(金) 午前 一般講演 10:30 - 16:20 |
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10:30-10:40 |
委員長挨拶 ( 10分 ) |
(1) |
10:40-11:05 |
簡易ESD装置の開発とその適用検討 ~ ESD破壊現象の特定 ~ |
○山崎規雄・真田 克(高知工科大) |
(2) |
11:05-11:30 |
無給電光伝送装置の信頼性設計と応用 |
○鳥羽良和(精工技研)・若井一顕(NHKアイテック) |
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11:30-13:00 |
昼食 ( 90分 ) |
(3) |
13:00-13:25 |
接触障害とシリコーン蒸気の分解プロセスの形態 ~ 接触デバイスにおけるシリコーン汚染の影響 ~ |
○玉井輝雄(三重大)・服部康弘・池田博榮(オートネットワーク技研) |
(4) |
13:25-13:50 |
3次元加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振装置試作 ~ |
○和田真一・天尾裕士・峯岸寛人・越田圭治・園田健人・菊地光男・久保田洋彰(TMCシステム)・澤 孝一郎(慶大) |
(5) |
13:50-14:15 |
Snめっき接点の繰り返し開閉時の接触抵抗挙動と表面観察 |
○中村真也・山下祐司・齋藤 寧・玉井輝雄・飯田和生(三重大)・服部康弘(オートネットワーク技研) |
(6) |
14:15-14:40 |
微摺動摩耗による接触抵抗変化の機構に関する研究 |
○佐藤尚幸・齋藤 寧・玉井輝雄・飯田和生(三重大)・伊藤哲也・服部康弘(オートネットワーク技研) |
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14:40-14:55 |
休憩 ( 15分 ) |
(7) |
14:55-15:20 |
全反射終端を用いた2波長プッシュプル反射計測方式(DWPR)の高精度化 |
○小松康俊・井上恵一・斧田誠一(渡辺製作所)・塚本信夫(ディーエスピー技研) |
(8) |
15:20-15:45 |
気密封止材料の基礎特性について ~ ガス透過性についての調査 ~ |
○早瀬哲生・坂本一三(オムロン) |
(9) |
15:45-16:10 |
瞬間接着剤を用いた光コネクタの信頼性 |
○柳 秀一・松井伸介・細野 茂・長瀬 亮(NTT) |
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16:10-16:20 |
休憩 ( 10分 ) |
2月15日(金) 特別講演 16:20 - 17:15 |
(10) |
16:20-17:10 |
[特別講演]ホログラフィとその機構デバイスの信頼性評価への応用 |
○谷口正成(東北文化学園大) |
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17:10-17:15 |
閉会 ( 5分 ) |