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★信頼性研究会（R） 専門委員長 海生 直人 (広島修道大) 副委員長 渡邉 均 (東京理科大) 幹事 木村 光宏 (法政大)， 馬渡 宏泰 (NTT) 幹事補佐 安里 彰 (富士通)， 田村 信幸 (防衛大) ★機構デバイス研究会（EMD） 専門委員長 吉田 清 (日本工大) 副委員長 長谷川 誠 (千歳科技大) 幹事 関川 純哉 (静岡大)， 久我 宣裕 (横浜国大) 幹事補佐 服部 康弘 (住友電装) 日時 2011年 2月18日(金) 13：00～17：10 会場 静岡大学 浜松キャンパス 佐鳴会館（〒432-8561 浜松市中区城北3-5-1．JR浜松駅からバス20分．http://www.eng.shizuoka.ac.jp/outlines/p07/．工学部 電気電子工学科 関川純哉．053-478-1618） 議題 機構デバイスの信頼性、信頼性一般（共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN） 2月18日(金) 午後 （13：00～17：10） −−− 委員長挨拶 （ 5分 ） −−− (1) 13:05 - 13:30 電気接触部への潤滑剤塗布による摩擦係数の増加現象について ○玉井輝雄・澤田 滋（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研） (2) 13:30 - 13:55 発光ダイオードを用いた接触領域内の電流直接観察 ○筑地茂樹・澤田 滋・玉井輝雄（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研）・飯田和生（三重大） (3) 13:55 - 14:20 揮発ガス雰囲気中で動作するリレー接点の接触抵抗特性に関する実験的検討 ○長谷川 誠・小林菜々絵（千歳科技大）・河野良行（カネカ） (4) 14:20 - 14:45 開離時アーク後の接点表面の接触抵抗分布測定 ○山梨洋平・宮司勝吉・関川純哉（静岡大）・窪野隆能（静岡大名誉教授） −−− 休憩 （ 15分 ） −−− (5) 15:00 - 15:25 IDDQを用いたLSIの劣化兆候の検出 ○坂本俊輔・眞田 克（高知工科大） (6) 15:25 - 15:50 開放故障に伴う不安定論理の固定化 ○安富泰輝・眞田 克（高知工科大） (7) 15:50 - 16:15 初期故障率に基づく電子部品の統計的品質管理 ○松岡敏成（三菱電機） (8) 16:15 - 16:40 定量位相差顕微鏡を用いた発熱計測技術の開発 ○中村共則・岩井秀直・山内豊彦・寺田浩敏（浜松ホトニクス） (9) 16:40 - 17:05 Ni上Snめっき層のへら状成長物の要因とはんだ溶解性一考察 ○伊藤貞則（イトケン事務所）・鈴木雅史（オムロン） −−− 閉会挨拶 （ 5分 ） −−− 一般講演：発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛 ☆R研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 4月22日(金) 機械振興会館 [2月18日(金)] テーマ：光部品・光デバイスの実装・信頼性、一般 5月13日(金) 高知市文化プラザ「かるぽーと」 [3月21日(月)] テーマ：ＬＳＩを含む電子デバイスの評価・解析・診断，および信頼性一般 【問合先】 木村光宏（法政大学） TEL 042-387-6116 FAX 042-387-6126 E-mail:  m   i ☆EMD研究会今後の予定 [ ]内発表申込締切日 3月4日(金) 日本工業大学 [1月17日(月)] テーマ：卒論・修論特集（ショートノート） 4月 休会 5月20日(金) 東北大学 サイバーサイエンスセンター [3月17日(木)] テーマ：一般 【問合先】 長谷川 誠（千歳科学技術大学） TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059 E-mail:    p n  関川 純哉（静岡大学） TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618 E-mail: tj kipc   服部 康弘（住友電装） TEL (059)382-8970、FAX (059)382-8591 E-mail:     -t  sws ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。 Last modified: 2011-01-26 18:55:44 |
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