研究会 - 信頼性研究会 (R) - 検索条件: 2005年度

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信頼性研究会 (R) (検索条件: 2005年度)

「from:2005-11-25 to:2005-11-25」による検索結果

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講演検索結果

登録講演（開催プログラムが公開されているもの） （日付・昇順）

研究会	発表日時	開催地		タイトル・著者	抄録	資料番号
R, ED, SDM (共催)	2005-11-25 10:10	大阪	中央電気倶楽部	［招待講演］低温多結晶シリコン薄膜トランジスタの信頼性評価技術 ○浦岡行治・冬木　隆（奈良先端大）	[more]	R2005-38 ED2005-173 SDM2005-192 pp.1-6
R, ED, SDM (共催)	2005-11-25 10:50	大阪	中央電気倶楽部	［招待講演］有機ELディスプレイ用水蒸気バリア膜の形成～低温触媒CVD装置の開発～ ○部家　彰（兵庫県立大）・南川俊治（石川工試）・仁木敏一・南　茂平（石川製作所）・増田　淳・梅本宏信（北陸先端大）・松尾直人（兵庫県立大）・松村英樹（北陸先端大）	[more]	R2005-39 ED2005-174 SDM2005-193 pp.7-12
R, ED, SDM (共催)	2005-11-25 13:10	大阪	中央電気倶楽部	Hole注入法によるNBTI評価手法及び寿命予測方法の開発 ○寺本章伸・渡辺一史・黒田理人（東北大）・三富士道彦・山葉隆久（ローム）・須川成利・大見忠弘（東北大）	[more]	R2005-40 ED2005-175 SDM2005-194 pp.13-18
R, ED, SDM (共催)	2005-11-25 13:35	大阪	中央電気倶楽部	SOIウェーハの非接触電気特性評価 ○宇野良平・吉田晴彦・佐藤真一（兵庫県立大）	[more]	R2005-41 ED2005-176 SDM2005-195 pp.19-24
R, ED, SDM (共催)	2005-11-25 14:00	大阪	中央電気倶楽部	Scan チェーンを活用した故障部位特定手法とその解析事例 ○片岡　武・渡部尚数・河南　靖・田中雅二（松下電器）	ロジック回路の故障に対し、LSIテスタと解析ソフトウェアを組み合わせて被疑故障ノードを抽出する故障診断システムが広く用い... [more]	R2005-42 ED2005-177 SDM2005-196 pp.25-30
R, ED, SDM (共催)	2005-11-25 14:25	大阪	中央電気倶楽部	動作電流密度2mA/um2以上で高信頼性を有するレッジ付きInP HBT ○深井佳乃・栗島賢二・井田　実・山幡章司・榎木孝知（NTT）	[more]	R2005-43 ED2005-178 SDM2005-197 pp.31-35
R, ED, SDM (共催)	2005-11-25 15:05	大阪	中央電気倶楽部	GaAs高周波デバイスの湿度に起因した劣化 ○野上洋一・日坂隆行・吉田直人（三菱電機）	AlGaAs/InGaAs PHEMTの高温高湿環境下の劣化機構について調べた。高温高湿環境下で劣化したサンプルはIma... [more]	R2005-44 ED2005-179 SDM2005-198 pp.37-41
R, ED, SDM (共催)	2005-11-25 15:30	大阪	中央電気倶楽部	水素プラズマ照射されたn型窒化ガリウムの電気特性評価 ○須田将之（都立大）・中村成志・須原理彦・奥村次徳（都立大/首都大東京）	プラズマ照射によるn-GaNの電気特性への影響を評価した．水素プラズマ照射されたSi doped n-GaNにおいて，低... [more]	R2005-45 ED2005-180 SDM2005-199 pp.43-46
R, ED, SDM (共催)	2005-11-25 15:55	大阪	中央電気倶楽部	ナノメートルショットキーゲートAlGaN/GaN HFETにおけるの異常ゲートリーク電流とゲート制御性に関する検討 ○葛西誠也・小谷淳二・長谷川英機・橋詰　保（北大）	ショットキーゲートGaN系ヘテロ構造FET(HFET)に関し，ナノメートルサイズまでゲート長を短縮した際に生じる特有のゲ... [more]	R2005-46 ED2005-181 SDM2005-200 pp.47-52

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