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専門委員長 |
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木村 光宏 (法政大) |
副委員長 |
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馬渡 宏泰 (NTT) |
幹事 |
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安里 彰 (富士通), 岡村 寛之 (広島大) |
幹事補佐 |
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田村 信幸 (法政大), マラット ザニケエフ (九工大) |
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日時 |
2013年11月14日(木) 14:00 - 16:30 |
議題 |
半導体と電子デバイスの信頼性,信頼性一般 |
会場名 |
中央電気倶楽部 |
住所 |
〒530-0004 大阪市北区堂島浜2丁目1番25号 |
交通案内 |
http://www.chuodenki-club.or.jp/map/map.html |
会場世話人 連絡先 |
杉谷全令
06-6345-6351 |
他の共催 |
◆IEEE Reliability Society Japan Chapter共催 日本信頼性学会協賛
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11月14日(木) 午後 14:00 - 16:30 |
(1) |
14:00-14:25 |
故障解析をサポートする最新のエックス線技術 ~ エックス線検査の基礎から応用まで、革新技術による観察応用事例 ~ |
○夏原正仁(島津製作所) |
(2) |
14:25-14:50 |
ロックインサーモグラフィによる効率的な非破壊故障箇所の同定 |
○長友俊信(DCGシステムズ) |
(3) |
14:50-15:15 |
熱衝撃Snウィスカの成長に及ぼす板状のNi-Sn金属間化合物の影響 |
○斎藤 彰・岡本 朗・岩堀禎浩・小川 誠(村田製作所)・元木章博(鯖江村田製作所) |
(4) |
15:15-15:40 |
温度サイクル環境起因のSnウィスカ成長一考察 |
○伊藤貞則(イトケン事務所) |
(5) |
15:40-16:05 |
残存エラー数に基づくソフトウェアのベイズ信頼性解析 |
○貝瀬 徹(兵庫県立大) |
(6) |
16:05-16:30 |
LSIの高信頼化設計における課題と展望 |
○高山浩一郎・安里 彰(富士通) |
講演時間 |
一般講演 | 発表 20 分 + 質疑応答 5 分 |
Last modified: 2013-09-25 15:02:06
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